[发明专利]一种敏感元刻蚀型的非制冷红外窄带探测器及制备方法有效

专利信息
申请号: 201910414292.6 申请日: 2019-05-17
公开(公告)号: CN110160659B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: 黄志明;胡涛;张志博;张惜月;邱琴茜;马万里;吴彩阳;李敬波;高艳卿;马建华;黄敬国;吴敬 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20
代理公司: 上海沪慧律师事务所 31311 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 敏感 刻蚀 制冷 红外 窄带 探测器 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种敏感元刻蚀型的非制冷红外窄带探测器的制备方法,所述的非制冷红外窄带探测器包括锰钴镍氧敏感元(1),锰钴镍氧介质超表面结构层(2),氧化铝衬底(3),金属反射层(4),绝缘层(5),导热硅脂(6),电极(7),焊丝(8),器件引脚(9),锗单晶半球透镜(10),器件管座(11);探测器的结构为:在氧化铝衬底(3)的上方依次镀有金属反射层(4),绝缘层(5),锰钴镍氧敏感元(1)和锰钴镍氧介质超表面结构层(2);在锰钴镍氧敏感元(1)表面,锰钴镍氧介质超表面结构层(2)的两侧,是电极(7);氧化铝衬底(3)通过导热硅脂(6)粘贴在器件管座(11)上;将电极(7)与器件引脚(9)用焊丝(8)相连;锗单晶半球透镜(10)封装在器件管座(11)上方的卡槽里;其特征在于所述的制备方法包括以下步骤:

1)在非晶氧化铝衬底上,用电子束蒸发的方法,依次沉积铬薄膜30nm,金薄膜300nm,得到金属反射层;

2)在金属反射层上,用原子层淀积的方法,沉积5nm氧化铝绝缘层,再采用射频磁控溅射生长方法,在绝缘层上常温溅射,沉积厚度为0.76um或者1.3um的锰钴镍氧敏感元薄膜;

3)在锰钴镍氧薄膜上,曝光显影后,使用干法刻蚀工艺,在敏感元上形成特定刻蚀图案和刻蚀深度的敏感元介质超表面;

4)在刻蚀形成的敏感元介质超表面的两侧,套刻显影处理后,获得电极图案,再使用电子束蒸发工艺,镀制铬金电极,剥离后,得到探测元;

5)机械划片探测元部分后,粘贴在底座的中心;采用点焊技术,将电极跟器件引脚用焊丝相连,实现电学导通;盖上锗单晶半球透镜,完成封装。

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