[发明专利]检测设备

说明书

一种检测设备包含芯片承载装置及抵压装置。芯片承载装置包含电路板及多个电连接单元。多个电连接单元用以承载多个芯片。抵压装置包含罩体及抵压件。罩体设置于电路板的一侧，而罩体与电路板共同形成有容置空间，设置于电路板上的多个电连接单元对应位于容置空间中。抽气设备能将容置空间中的空气向外抽出，以使容置空间成负压状态。抵压件设置于罩体及多个电连接单元之间，且抵压件位于容置空间中。当抽气设备将容置空间中的空气向外抽出时，抵压件将抵压多个电连接单元及芯片，而使芯片与电连接单元相连接。

技术领域

本发明涉及一种检测设备，特别是涉及一种用来检测芯片的检测设备。

背景技术

现有常见的内存检测设备，对内存进行检测的方式，是将多个内存逐一利用人工或是机械手臂的方式，插设于电路板上的多个电底座上。随后，在通过电路板及多个电底座对多个内存进行检测作业。然，在具体的应用中，常发生内存未稳固地与电底座连接(例如内存的接脚未完全与电底座的接脚相连接)，而发生内存应为良品，却被判定为未通过检测而为不良品的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种检测设备，用以改善现有技术中，内存检测设备利用人工或是机械手臂将内存逐一插入于电底座中，以进行检测作业时，容易发生内存未稳固地插入电底座中，而导致检测结果不正确的问题。

为了实现上述目的，本发明提供一种检测设备，其用以对多个芯片进行检测，所述检测设备包含一芯片承载装置及一抵压装置，芯片承载装置包含至少一电路板及多个电连接单元；多个电连接单元设置于所述电路板，多个所述电连接单元用以承载多个所述芯片；一抵压装置，其包含：一罩体及一抵压件，罩体一侧内凹形成有一凹槽，所述罩体设置于所述电路板的一侧，而所述罩体与所述电路板共同形成有一容置空间，设置于所述电路板上的多个所述电连接单元对应位于所述容置空间中，所述罩体能与一抽气设备相连接，而所述抽气设备能将所述容置空间中的空气向外抽出，以使所述容置空间成负压状态；一抵压件，其设置于所述罩体及多个所述电连接单元之间，且所述抵压件的至少一部分位于所述容置空间中；其中，当所述抽气设备将所述容置空间中的空气向外抽出，而使所述容置空间的压力到达一预定压力时，所述抵压件将抵压多个所述电连接单元及设置于其中的所述芯片，以使各个所述芯片将与相对应的所述电连接单元相互连接。

优选地，所述罩体具有至少一抽气孔或所述电路板具有至少一抽气孔，所述抽气设备能通过所述抽气孔将所述容置空间中的空气向外抽出。