[发明专利]一种消除负阻效应的阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管有效

专利信息
申请号: 201910410221.9 申请日: 2019-05-16
公开(公告)号: CN110190113B 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 祝靖;邹艳勤;李少红;孙伟锋;陆生礼;时龙兴 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/40;H01L29/423;H01L29/739
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 214135 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 消除 效应 阳极 短路 横向 绝缘 栅双极型 晶体管
【权利要求书】:

1.一种消除负阻效应的阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管,包括P型衬底(1),在P型衬底(1)上设有氧化层埋层(2),在氧化层埋层(2)上设有N型漂移区(3),其特征在于,在N型漂移区(3)的表面设有二氧化硅氧化层(9),在N型漂移区(3)内设有横向绝缘栅双极型晶体管和N型金属氧化物半导体场效应晶体管,所述横向绝缘栅双极型晶体管包括设在N型漂移区(3)内的第一N型重掺杂区(4)且第一N型重掺杂区(4)位于N型漂移区(3)的表面,在第一N型重掺杂区(4)内设有P型重掺杂阳极区(7),所述N型金属氧化物半导体场效应晶体管包括设在N型漂移区(3)内的第二N型重掺杂区(5),在第二N型重掺杂区(5)内设有P型阱区(14),在P型阱区(14)内包围有N型重掺杂阳极区(6),所述第二N型重掺杂区(5)与P型阱区(14)电连接,在二氧化硅氧化层(9)内设有多晶硅栅(15)且所述多晶硅栅(15)自N型重掺杂阳极区(6)的上方区域跨过P型阱区(14)并进入第二N型重掺杂区(5)的上方区域,所述多晶硅栅(15)还与N型重掺杂阳极区(6)及P型重掺杂阳极区(7)连接。

2.根据权利要求1所述的消除负阻效应的阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管还包括场氧化层(8)、作为栅极G的多晶硅栅极(10)、P型体区(13)及相互连接并作为阴极C的P型重掺杂阴极区(11)和N型重掺杂阴极区(12),场氧化层(8)设在N型漂移区(3)与二氧化硅氧化层(9)之间,P型体区(13)设在N型漂移区(3)内且位于N型漂移区(3)的表面,P型重掺杂阴极区(11)和N型重掺杂阴极区(12)设在P型体区(13)且位于P型体区(13)的表面,多晶硅栅极(10)位于二氧化硅氧化层(9)内且始于N型重掺杂阴极区(12)的上方并在跨过于P型体区(13)后延伸经过N型漂移区(3)直至场氧化层(8)的上方。

3.根据权利要求1所述的消除负阻效应的阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,在二氧化硅氧化层(9)内设有浮空金属电极(16),所述第二N型重掺杂区(5)与P型阱区(14)的电连接是通过浮空金属电极(16)实现连接。

4.根据权利要求1、2或3所述的消除负阻效应的阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述N型金属氧化物半导体场效应晶体管位于场氧化层(8)与第一N型重掺杂区(4)之间。

5.根据权利要求1、2或3所述的消除负阻效应的阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述N型金属氧化物半导体场效应晶体管右边界与第一N型重掺杂区(4)左边界的距离范围为0.8~1.5μm。

6.根据权利要求1、2或3所述的消除负阻效应的阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述N型金属氧化物半导体场效应晶体管的多晶硅栅(15)与P型阱区(14)之间的距离为0.08~0.15μm。

7.根据权利要求1、2或3所述的消除负阻效应的阳极短路型横向绝缘栅双极型晶体管,其特征在于,所述N型金属氧化物半导体场效应晶体管的P型阱区(14)的表面掺杂浓度范围为5.3e16~9.3e16cm-3

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