[发明专利]芯片转移机台在审
| 申请号: | 201910408682.2 | 申请日: | 2019-05-16 |
| 公开(公告)号: | CN111834266A | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
| 发明(设计)人: | 廖建硕 | 申请(专利权)人: | 台湾爱司帝科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 梁丽超 |
| 地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 芯片 转移 机台 | ||
本发明公开一种芯片转移机台,包括:芯片承载台、芯片输送模块以及芯片承载基板。芯片承载台承载多个芯片。芯片输送模块包括至少一个具有粘着表面的输送带。芯片承载基板承载多个芯片。芯片承载台、芯片输送模块以及芯片承载基板设置在同一个生产线上,且芯片承载台与芯片承载基板都设置在至少一个输送带的粘着表面的下方或者上方。因此,本发明的芯片转移机台可提升芯片转移的效率及速度。
技术领域
本发明涉及一种转移机台,特别是涉及一种芯片转移机台。
背景技术
一般要将所制得的芯片阵列转移到所要应用的不同尺寸的基板或面板上时,由于程序复杂,因此,造成转移所需时间较长的问题。
因此,如何通过结构设计或流程的改良,来提升芯片转移的效率及速度,已成为本发明所属技术领域所欲解决的重要课题之一。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,针对现有技术的不足提供一种芯片转移机台。
为了解决上述的技术问题,本发明所采用的其中一技术方案是,提供一种芯片转移机台,包括:芯片承载台、芯片输送模块以及芯片承载基板。芯片承载台承载多个芯片。芯片输送模块包括至少一个具有粘着表面的输送带。芯片承载基板承载多个芯片。其中,所述芯片承载台、所述芯片输送模块以及所述芯片承载基板设置在同一个生产线上,且所述芯片承载台与所述芯片承载基板都设置在至少一个所述输送带的所述粘着表面的下方或者上方。
为了解决上述的技术问题,本发明所采用的另外一技术方案是,提供一种芯片转移机台,包括芯片承载台、芯片输送模块以及芯片承载基板,所述芯片输送模块包括至少一个具有粘着表面的输送带,所述芯片承载台与所述芯片承载基板都设置在至少一个所述输送带的所述粘着表面的下方或者上方。
本发明的有益效果在于,本发明所提供的芯片转移机台,能通过“芯片输送模块包括至少一个具有粘着表面的输送带”以及“所述芯片承载台、所述芯片输送模块以及所述芯片承载基板设置在同一个生产线上,且所述芯片承载台与所述芯片承载基板都设置在至少一个所述输送带的所述粘着表面的下方或者上方”的技术方案,以提升芯片转移的效率及速度。
为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而所提供的附图仅用于提供参考与说明,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图1为本发明第一实施例的芯片转移机台的第一种结构示意图。
图2为本发明第一实施例的芯片转移机台的顶针模块的动作示意图。
图3为本发明第一实施例的芯片转移机台将芯片输送至芯片承载基板的状态示意图。
图4为本发明第一实施例的芯片转移机台的推动模块的动作示意图。
图5为本发明第一实施例的芯片转移机台进行芯片转移过程的第一状态示意图。
图6为本发明第一实施例的芯片转移机台进行芯片转移过程的第二状态示意图;其中,图6与图5为同一芯片转移程序。
图7为本发明第一实施例的芯片转移机台的第二种结构示意图。
图8为本发明第一实施例的芯片转移机台的推动模块与激光产生模块的动作示意图。
图9为本发明第一实施例的芯片转移机台的电路基板的俯视示意图。
图10为本发明第二实施例的芯片转移机台的第一种结构示意图。
图11为本发明第二实施例的芯片转移机台的第二种结构示意图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾爱司帝科技股份有限公司,未经台湾爱司帝科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910408682.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电气管路用吸热型防火包覆材
- 下一篇:图像处理系统
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





