[发明专利]散射校正方法、系统、可读存储介质和设备

权利要求书

1.一种散射校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取扫描对象的不加散射校正的响应数据弦图，获取所述扫描对象的扫描衰减图；

根据所述响应数据弦图和所述扫描衰减图获取在第一预设数量散射点下的散射事件分布弦图；

将所述响应数据弦图、所述扫描衰减图和所述散射事件分布弦图输入至预设的散射校正模型，获得在第二预设数量散射点下的散射事件分布弦图；其中，所述第一预设数量小于所述第二预设数量。

2.根据权利要求1所述的散射校正方法，其特征在于，所述根据所述响应数据弦图和所述扫描衰减图获取在第一预设数量散射点下的散射事件分布弦图的步骤包括以下步骤：

根据所述响应数据弦图和所述扫描衰减图进行图像重建，获得不加散射校正的三维放射源分布图；

根据所述扫描衰减图在所述三维放射源分布图中均匀分布所述第一预设数量的散射点；

根据分布有散射点的三维放射源分布图进行散射校正，获取在第一预设数量散射点下的散射事件分布弦图。

3.根据权利要求2所述的散射校正方法，其特征在于，所述根据分布有散射点的三维放射源分布图进行散射校正，获取在第一预设数量散射点下的散射事件分布弦图的步骤包括以下步骤：

针对所述响应数据弦图中的每一条采样响应线，获取所述三维放射源分布图中每一个散射点进行散射的概率；

遍历所述响应数据弦图中的所有采样响应线和所述三维放射源分布图中的所有散射点，根据所得到的概率获取在第一预设数量散射点下的散射事件分布弦图。

4.根据权利要求1所述的散射校正方法，其特征在于，在所述将所述响应数据弦图、所述扫描衰减图和所述散射事件分布弦图输入至预设的散射校正模型的步骤之前，还包括以下步骤：

获取不加散射校正的响应数据弦图样本，以及对应的扫描衰减图样本；

根据所述响应数据弦图样本和所述扫描衰减图样本获取在第一预设数量散射点下的第一散射事件分布弦图样本，以及在第二预设数量散射点下的第二散射事件分布弦图样本；

将所述响应数据弦图样本、所述扫描衰减图样本和所述第一散射事件分布弦图样本作为输入训练样本，将所述第二散射事件分布弦图样本作为输出训练样本，对卷积神经网络模型进行训练，获得所述预设的散射校正模型。

5.根据权利要求4所述的散射校正方法，其特征在于，所述响应数据弦图样本包括不同模体或不同临床病人扫描下的响应数据弦图。

6.根据权利要求4所述的散射校正方法，其特征在于，所述根据所述响应数据弦图样本和所述扫描衰减图样本获取在第一预设数量散射点下的第一散射事件分布弦图样本，以及在第二预设数量散射点下的第二散射事件分布弦图样本的步骤包括以下步骤：

根据基于块状采样的响应数据弦图样本和所述扫描衰减图获取在第一预设数量散射点下的第一散射事件分布弦图样本；

根据基于单晶体采样的响应数据弦图样本和所述扫描衰减图获取在第二预设数量散射点下的第二散射事件分布弦图样本。

7.根据权利要求1至6中任意一项所述的散射校正方法，其特征在于，所述获取所述扫描对象的扫描衰减图的步骤包括以下步骤：

获取所述扫描对象的电子计算机断层扫描数据，根据所述电子计算机断层扫描数据获取所述扫描衰减图。

8.一种散射校正系统，其特征在于，包括：

图像获取单元，用于获取扫描对象的不加散射校正的响应数据弦图，获取所述扫描对象的扫描衰减图；

散射分析单元，用于根据所述响应数据弦图和所述扫描衰减图获取在第一预设数量散射点下的散射事件分布弦图；

散射校正单元，用于将所述响应数据弦图、所述扫描衰减图和所述散射事件分布弦图输入至预设的散射校正模型，获得在第二预设数量散射点下的散射事件分布弦图；其中，所述第一预设数量小于所述第二预设数量。

9.一种可读存储介质，其上存储有可执行程序，其特征在于，所述可执行程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任意一项所述的散射校正方法的步骤。

10.一种散射校正设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可执行程序，其特征在于，所述处理器执行所述可执行程序时实现权利要求1至7中任意一项所述的散射校正方法的步骤。