[发明专利]一种二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置

权利要求书

1.一种二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：包括激光器(101)、样品池(106)、光学元件、分束器(109)和信号采集单元，所述光学元件包括带通滤光片(111)和窄带滤光片(112)，所述激光器(101)与所述样品池(106)相连，所述样品池(106)与所述分束器(109)相连，所述分束器(109)分别与所述带通滤光片(111)、所述窄带滤光片(112)相连，所述信号采集单元分别与所述带通滤光片(111)、所述窄带滤光片(112)相连，所述样品池(106)用于放置样品，由所述激光器(101)输出的信号光，聚焦在所述样品上，经分束器(109)分光后，分别进行二次谐波和双光子荧光的同时原位测量。

2.根据权利要求1所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：所述信号采集单元包括单色仪、光电倍增管、稳压电源(118)、前置放大器(117)、单光子计数器(119)，所述单色仪一端与所述光电倍增管相连，所述单色仪另一端与所述光学元件相连，所述前置放大器(117)一端与所述单光子计数器(119)相连，所述前置放大器(117)另一端与所述光电倍增管相连，所述稳压电源(118)与所述光电倍增管相连。

3.根据权利要求2所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：所述单色仪包括第一单色仪(113)、第二单色仪(114)，所述光电倍增管包括第一光电倍增管(115)、第二光电倍增管(116)，所述第一单色仪(113)一端与所述带通滤光片(111)相连，所述第一单色仪(113)另一端与所述第一光电倍增管(115)相连，所述第二单色仪(114)一端与所述窄带滤光片(112)相连，所述第二单色仪(114)另一端与所述第二光电倍增管(116)相连，所述稳压电源(118)安装在所述第一光电倍增管(115)、所述第二光电倍增管(116)之间，所述前置放大器(117)分别与所述第一光电倍增管(115)、所述第二光电倍增管(116)相连，所述单光子计数器(119)与所述前置放大器(117)相连。

4.根据权利要求3所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：所述分束器(109)将信号光分成两束光后，其中一束信号光经过所述带通滤光片(111)，挑选出双光子荧光信号，然后通过安装在所述第一单色仪(113)上的所述第一光电倍增管(115)探测，另一束信号光经过所述窄带滤光片(112)，挑选出二次谐波信号，然后通过安装在第二单色仪(114)上的第二光电倍增管(116)探测。

5.根据权利要求1所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括第一反射镜(103)、第二反射镜(108)、第三反射镜(110)，所述第一反射镜(103)安装在所述激光器(101)与所述样品池(106)之间，所述第二反射镜(108)安装在所述样品池(106)与所述可见光分束器(109)之间，所述第三反射镜(110)安装在所述窄带滤光片(112)和所述可见光分束器(109)之间。

6.根据权利要求5所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括可变中性密度滤光片(102)，所述可变中性密度滤光片(102)安装在所述激光器(101)与所述第一反射镜(103)之间，所述可变中性密度滤光片(102)用于衰减所述激光器(101)输出的功率，使输入到所述样品的光功率不至于损坏样品。

7.根据权利要求5所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括高通滤光片(104)，所述高通滤光片(104)安装在所述第一反射镜(103)与所述样品池(106)之间，所述高通滤光片(104)过滤所述激光器(101)产生的高频光。

8.根据权利要求7所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括透镜(105)，所述透镜(105)安装在所述高通滤光片(104)与所述样品池(106)之间。