[发明专利]显示面板的mura补偿方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种显示面板的mura补偿方法、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：点亮所述显示面板，所述显示面板包括点亮的至少两种颜色的特征子像素；在预设灰阶下采集所述显示面板的亮度数据；根据所述亮度数据分别提取所述至少两种颜色的特征子像素的当前亮度数据；根据所述至少两种颜色的特征子像素的当前亮度数据，确定所述显示面板的亮度补偿值。采用本方法可以减少画面拍摄次数，从而节约拍摄时间，提高补偿效率。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板的mura补偿方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着显示技术的发展，AMOLED(Active-matrix organic light-emitting diode，有源矩阵有机发光二极体)显示面板因其具有高对比度、超轻薄、可弯曲等诸多优点而被广泛使用。AMOLED显示面板通常会由于工艺、材料等原因出现显示画面亮度不均匀的问题，也称为mura。为提高显示面板的显示效果，需要对显示面板进行补偿，补偿技术通常分为内部补偿和外部补偿。其中，外部补偿根据数据抽取方法的不同又可以分为光学抽取式和电学抽取式。光学抽取的方式也称为Demura，其具有结构简单，方法灵活的优点，因此在现阶段被广泛采用。

Demura是指将显示面板点亮后通过光学CCD相机拍照的方法将亮度信号抽取出来并根据亮度数据进行补偿。目前，因高分辨率、高显示效果的需求，显示面板的分辨率越来越高，在处理多张图片时，获取显示面板中原始显示数据的时间越来越长，增加大量的测试时间，继而降低了补偿效率。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高显示面板补偿效率的显示面板的mura补偿方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种显示面板的mura补偿方法，所述方法包括：

点亮所述显示面板，所述显示面板包括点亮的至少两种颜色的特征子像素；

在预设灰阶下采集所述显示面板的亮度数据；

根据所述亮度数据分别提取所述至少两种颜色的特征子像素的当前亮度数据；

根据所述至少两种颜色的特征子像素的当前亮度数据，确定显示面板的亮度补偿值。

在其中一个实施例中，所述获取所述检测画面的亮度数据，并分别提取所述至少两种颜色的特征子像素的当前亮度数据包括：

获取所述检测画面的亮度数据，根据所述至少两种颜色的特征子像素的位置，分别提取所述至少两种颜色的特征子像素的当前亮度数据。

在其中一个实施例中，根据所述至少两种颜色的特征子像素的当前亮度数据，确定所述显示面板的亮度补偿值包括：

根据所述至少两种颜色的特征子像素的当前亮度数据，计算所述检测画面中各同一种颜色的的所述特征子像素的亮度均值；

根据所述亮度均值和该颜色的所述特征子像素的当前亮度数据，确定对应的所述特征子像素的亮度补偿值；

根据所述特征子像素的亮度补偿值，确定所述显示面板的亮度补偿值。

在其中一个实施例中，所述根据所述亮度均值和该颜色的所述特征子像素的当前亮度数据，确定对应的所述特征子像素的亮度补偿值包括：

将所述亮度均值与所述特征子像素的当前亮度数据做差，所述差值即为对应的所述特征子像素对应的亮度补偿值。

在其中一个实施例中，所述显示面板还包括除所述特征子像素外未点亮的其他子像素；

所述根据所述特征子像素的亮度补偿值，确定所述显示面板的亮度补偿值包括：

根据所述特征子像素的亮度补偿值，采用线性插值算法获取所述其他子像素的亮度补偿值。