[发明专利]一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置

说明书

本发明公开了一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置，内部设置有第一半导体激光器、第二半导体激光器、第一光分路器、第二光分路器、第一光功率计、第二光功率计、650nm红光源及复用器，第一半导体激光器及第二半导体激光器分别与复用器相连通，复用器与第一光分路器相连，同时第一光分路器还与650nm红光源相连接，第二光分路器分别与第一光功率计及被检测器件相连，该发明实现了将红光与插回损检测一体化，实现红光可通断，在可利用红光的同时可完成插回损检测，只需将被测产品与仪表接口进行一次连接，即可完成红光检测和插回损检测应用，操作步骤简单，效率大幅提高，很大程度地降低了检测人员的劳动强度，方便插回损检测。

技术领域

本发明涉及光检测装置技术领域，具体为一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置。

背景技术

随着光纤通信技术的飞速发展，FTTx(光纤到户、光纤到大楼、光纤到驻地等的统称)的大量普及应用，光纤通信所占地位与日俱增。

光纤作为光通信中必不可少的传输媒介，其需求量也大幅度增加。光纤相关的参数需要严格把控，只有光纤检测合格才能保证正常投入使用。光纤的插回损测量，就是其中重要的一项。光纤接入光纤器件所产生的光损耗和反射光功率与入射光功率的差值即为插入损耗和回波损耗。在手动搭建测试时，需要先连接红光测试光纤通断、识别大量光纤中被测光纤尾部位置，继而进行插回损检测，人工一个步奏一个步奏地检测。当前无论是使用外部红光或是带红光接口的插回损仪表都需要两次插拔接口，这种测试方法步骤复杂，效率低下。目前市场上还没有光路中自带可通断红光的插回损检测装置，因此，亟待一种改进的技术来解决现有技术中所存在的这一问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置，可一次插接实现光纤通断识别、光纤尾部位置识别及插回损测量，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种光路中自带可通断红光的插回损检测装置，包括壳体、显示仪、按钮、光源输出接头、功率探测接头、电源接口、开关、RS232接口、USB接口、脚踏开关接口、第一半导体激光器、第二半导体激光器、第一光分路器、第二光分路器、第一光功率计、第二光功率计、复用器、650nm红光源及被检测器件，所述壳体正面设置有显示仪、若干按钮、光源输出接头及功率探测接头，所述壳体背面设置有电源接口、开关、RS232接口、USB接口及脚踏开关接口，所述壳体内部设置有第一半导体激光器、第二半导体激光器、第一光分路器、第二光分路器、第一光功率计、第二光功率计、复用器及650nm红光源，所述第一半导体激光器及第二半导体激光器分别与复用器相连通，所述复用器还与第一光分路器相连，所述第一光分路器与650nm红光源（17）相连的同时还与第二光分路器相连，所述第二光分路器还分别与第一光功率计及被检测器件一端相连，所述被检测器件另一端与第二光功率计相连通，所述壳体内部还设置有MCU。

优选的，所述第一光分路器及第二光分路器均采用半导体工艺制作，光波导阵列位于芯片的上表面，分路功能集成在芯片上。

优选的，所述第一光功率计及第二光功率计内部结构一致，所述第一光功率计内部设置有光电转换电路、电压电流变换电路、放大电路、A/D转换电路及光探测器。

优选的，所述功率探测接头与第一光功率计相连通。

优选的，所述光源输出接头分别可与第一半导体激光器、第二半导体激光器及650nm红光源相连通。

优选的，其使用方法包括以下步骤：

步骤一：接通220V三相交流电源并打开开关，进入系统后进入插回损测量模式；

步骤二：将被测光纤一端装配到光源输出接头3上；