[发明专利]一种提供冗余位线的方法和装置

权利要求书

1.一种提供冗余位线的方法，应用于包括主存储阵列和冗余阵列的NAND FLASH，其特征在于，包括：

在所述冗余阵列中第一位线替换所述主存储阵列中有缺陷的第二位线预设时间后，检测所述第二位线是否有缺陷；

如果是，用所述冗余阵列中没有缺陷且未被使用的第三位线替换所述第二位线。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述用所述冗余阵列中没有缺陷且未被使用的第三位线替换所述第二位线，包括：

根据所述第三位线的COL地址中缺陷标志位来判断所述第三位线是否没有缺陷，以及根据所述第三位线的COL地址中使用标志位来判断所述第三位线是否未被使用；

当所述第三位线的COL地址中缺陷标志位为无效时，确定所述第三位线没有缺陷；

当所述第三位线的COL地址中使用标志位为无效时，确定所述第三位线未被使用。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述用所述冗余阵列中没有缺陷且未被使用的第三位线替换所述第二位线之后，还包括：

设置所述第三位线的COL地址中缺陷标志位为无效，以及设置所述第三位线的COL地址中使用标志位为有效。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述用所述冗余阵列中没有缺陷且未被使用的第三位线替换所述第二位线，包括：

将所述第一位线对应寄存器存储的COL地址写入所述第三位线对应的寄存器；

禁用所述第一位线。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述禁用所述第一位线，包括：

设置所述第一位线的COL地址中缺陷标志位为有效。

6.一种提供冗余位线的装置，应用于包括主存储阵列和冗余阵列的NAND FLASH，其特征在于，包括：

检测模块，用于在所述冗余阵列中第一位线替换所述主存储阵列中有缺陷的第二位线预设时间后，检测所述第二位线是否有缺陷；

替换模块，用于在所述第二位线有缺陷时，用所述冗余阵列中没有缺陷且未被使用的第三位线替换所述第二位线。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述替换模块包括：

判断子模块，用于根据所述第三位线的COL地址中缺陷标志位来判断所述第三位线是否没有缺陷，以及根据所述第三位线的COL地址中使用标志位来判断所述第三位线是否未被使用；

第一确定子模块，用于当所述第三位线的COL地址中缺陷标志位为无效时，确定所述第三位线没有缺陷；

第二确定子模块，用于当所述第三位线的COL地址中使用标志位为无效时，确定所述第三位线未被使用。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，在所述替换模块之后，还包括：

设置模块，用于设置所述第三位线的COL地址中缺陷标志位为无效，以及设置所述第三位线的COL地址中使用标志位为有效。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述替换模块包括：

地址写入子模块，用于将所述第一位线对应寄存器存储的COL地址写入所述第三位线对应的寄存器；

禁用模块，用于禁用所述第一位线。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述禁用模块包括：

设置子模块，用于设置所述第一位线的COL地址中缺陷标志位为有效。