[发明专利]一种基于联合剖面的二维电法勘探方法在审
申请号: | 201910386820.1 | 申请日: | 2019-05-10 |
公开(公告)号: | CN110208868A | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 刘春明;郭振威;胡隆运;袁昀希 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410083 湖南省长沙*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电法勘探 联合剖面法 电阻率 极化率 记录点 异常体 等电 二维 极大值点 勘探效果 宽度判断 综合处理 识别度 测线 电法 极距 解译 工作量 野外 联合 地质 | ||
本发明提供一种基于联合剖面的二维电法勘探方法。本发明基于电法勘探中的联合剖面法获取某测线的所有记录点的两个方向的电阻率、极化率等电法数据,对相同记录点、两个方向、相同极距的电阻率、极化率等电法数据分别进行平均值和差值的绝对值等综合处理,主要选择相关电法参数的差值的绝对值的极大值点进行异常体的异常宽度判断,并进行综合解译,从而在不增加野外工作量的前提下,提高联合剖面法的勘探效果。本发明能提高联合剖面法的电法勘探效果和精度,增加对地质异常体的识别度。
技术领域
本发明属于电法勘探领域,涉及一种基于联合剖面的二维电法勘探方法。
背景技术
目前电法勘探中的联合剖面对于判断地下地质异常体的产状效果较好,在电法勘探中得到较多的应用,且对于相同测点的相同极距的视电阻率、视极化率等电法参数可以在理论上获得对称四极剖面数据,从而能进一步提高对地下地质异常体的判断精度。但基于目前的联合剖面电法数据处理方式,对于地质异常体的分布范围特别是异常体的宽度判断精度不高,故有必要对联合剖面所获取的视电阻率、视极化率等电法参数做进一步改进,提高对地质异常体的分布范围特别是异常体的宽度的判断精度。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术存在的问题,提出一种基于联合剖面的二维电法勘探方法,以便提高联合剖面的电法勘探效果和精度。
为实现以上目的,本发明通过下列技术步骤来实现:
a)按照常规的联合剖面方法获取某条测线的多个记录点的两个不同方向的联合剖面电法数据;
b)对相同记录点的两个不同方向的相同供电极距的视电阻率数据,按照公式计算两个方向的视电阻率数据的平均值,按照公式计算两个方向的视电阻率数据的差值的绝对值;其中Oi为记录点的编号,Ai和Bi为对应记录点Oi的供电点编号,i为自然数;代表Ai供电点供电时,Oi记录点的联合剖面视电阻率;代表Bi供电点供电时,Oi记录点的联合剖面视电阻率;代表Oi记录点的Ai和Bi供电点的联合剖面两个方向的视电阻率平均值;代表Oi记录点的Ai和Bi供电点的联合剖面两个方向的视电阻率差值的绝对值;ABS代表对取绝对值;其中Ai供电点到Oi记录点的距离等于Bi供电点到Oi记录点的距离,且Ai供电点与Bi供电点相对于Oi记录点的方向相反;
c)对相同记录点的两个不同方向的相同供电极距的视极化率数据,按照公式计算两个方向的视极化率数据的平均值,按照公式计算两个方向的视极化率数据的差值的绝对值;其中Oi为记录点的编号,Ai和Bi为对应记录点Oi的供电点编号,i为自然数;代表Ai供电点供电时,Oi记录点的联合剖面视极化率;代表Bi供电点供电时,Oi记录点的联合剖面视极化率;代表Oi记录点的Ai和Bi供电点的联合剖面两个方向的视极化率平均值;代表Oi记录点的Ai和Bi供电点的联合剖面两个方向的视极化率差值的绝对值;ABS代表对取绝对值;其中Ai供电点到Oi记录点的距离等于Bi供电点到Oi记录点的距离,且Ai供电点与Bi供电点相对于Oi记录点的方向相反;
d)按照相同电法参数类型、相同供电极距、相同测线的要求,绘制曲线;把同一条测线所有记录点的相同供电极距的所有电法数据分别绘制曲线,每条曲线所有记录点的的电法参数类型、供电极距、测线相同,纵坐标为电法数据值,横坐标为电法数据的记录点;
e)对同一条测线所有记录点的不同电法曲线进行综合解译,利用曲线主要判断电法异常体的电法特性,利用或曲线的极大值点主要判断地质异常体的分布范围,利用或曲线的异常段数值判断地质异常体的电阻率或极化率特征,从而解决地质异常体的埋藏位置、分布范围等问题。
以上方法步骤中的等联合剖面的原始数据均按照常规的联合剖面方法获得,Ai、Bi供电点分别位于Oi记录点的两侧,且均位于同一条测线上。
附图说明
图1为本发明的方法流程图;
图2为应用本发明的高阻异常体的分布示意图;
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