[发明专利]一种基于测量轨迹的阈值直线确定方法、装置

权利要求书

1.一种基于测量轨迹的阈值直线确定方法，其特征在于，包括以下步骤：

获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号的测量数据，其中：所述确定量子态包括可相互区分的第一量子态和第二量子态；

对所述测量数据进行复数变换处理获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号对应的原始数据；

根据所述原始数据获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号对应的测量轨迹；

根据所述测量轨迹获得量子比特处于所述第一量子态时的每次测量得到的量子比特读取信号对应的第一类坐标点数据以及各所述第一类坐标点的第一统计中心坐标点、量子比特处于所述第二量子态时每次测量得到的量子比特读取信号对应的第二类坐标点数据以及各所述第二类坐标点的第二统计中心坐标点；

根据所述第一类坐标点数据和所述第一统计中心坐标点、第二类坐标点数据和所述第二统计中心坐标点确定阈值直线。

2.根据权利要求1所述的基于测量轨迹的阈值直线确定方法，其特征在于，所述测量数据包含M*N个采样数据，其中M为重复采样次数，N为每次采样点数；

所述测量数据包括量子比特处于所述第一量子态时的量子比特读取信号的第一测量数据S0和量子比特处于所述第二量子态时的量子比特读取信号的第二测量数据S1；

所述对所述测量数据进行复数变换处理获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号对应的原始数据，具体包括：

对所述第一测量数据S0和所述第二测量数据S1中的各所述采样数据均进行复数变换处理获得量子比特处于所述第一量子态时的量子比特读取信号对应的第一原始数据SIF0、和量子比特处于所述第二量子态时的量子比特读取信号对应的第二原始数据SIF1，所述第一原始数据SIF0和所述第二原始数SIF1据均为包含实部和虚部的复数数据。

3.根据权利要求2所述的基于测量轨迹的阈值直线确定方法，其特征在于，所述对各所述采样数据进行复数变换处理，具体包括：

第j个采样数据乘以exp(-2πf*j),其中：f为原始信号频率/采样率。

4.根据权利要求2所述的基于测量轨迹的阈值直线确定方法，其特征在于，所述根据所述原始数据获得量子比特处于确定量子态时的量子比特读取信号对应的测量轨迹，具体包括：

对所述第一原始数据SIF0、所述第二原始数据SIF1中对应每次测量的数据均进行路径转化处理得到每次测量的路径化数据；

对各路径化数据均进行IQ分离变量处理得到各轨迹路径对应的I轴轨迹路径数据和Q轴轨迹路径数据；

对所述第一原始数据SIF0中重复测量得到的I轴轨迹路径数据平均得到量子比特处于所述第一量子态时的第一I轴轨迹路径，对所述第一原始数据SIF0中重复测量得到的Q轴轨迹路径数据平均得到量子比特处于所述第一量子态时的第一Q轴轨迹路径；对所述第二原始数据SIF1中重复测量得到的I轴轨迹路径数据平均得到量子比特处于所述第二量子态时的第二I轴轨迹路径，对所述第二原始数据SIF1中重复测量得到的Q轴轨迹路径数据平均得到量子比特处于所述第二量子态时的第二Q轴轨迹路径。

5.根据权利要求4所述的基于测量轨迹的阈值直线确定方法，其特征在于，所述对所述第一原始数据SIF0、所述第二原始数据SIF1中对应每次测量的数据均进行路径转化处理得到每次测量的路径化数据，具体包括：

对所述第一原始数据SIF0、所述第二原始数据SIF1中对应每次测量的数据均进行分段处理；其中：分段长度N1，其中N1N，n1＝N/N1为整数；

对于k1＝1，2，…，n1，将第一原始数据SIF0、所述第二原始数据SIF1中的每一行的第(k1-1)*N1+1到k1*N1个元素取出来，构成第一路径化数据SSIF0和第二路径化数据SSIF1，两者均为M×N1×n1的数组。