[发明专利]整合型触控面板与测试方法在审
| 申请号: | 201910376278.1 | 申请日: | 2019-05-07 |
| 公开(公告)号: | CN110187218A | 公开(公告)日: | 2019-08-30 |
| 发明(设计)人: | 李家圻;陈政德 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G06F3/041 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 聂慧荃;闫华 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 触控单元 测试信号 触控面板 整合型 开关群 测试 测试阶段 多行 电压准位 组接收 组输出 | ||
一种整合型触控面板与测试方法,其中,所述测试方法适用于整合型触控面板,其中整合型触控面板包含多个触控单元与多个开关群组,且多个触控单元排列成多行。测试方法包含以下步骤:利用多个开关群组接收多个测试信号,其中多个测试信号彼此不同;在多个测试阶段中,依次利用多个开关群组输出多个测试信号至多个触控单元。其中多行的一第一行包含一待测触控单元与其他触控单元,且其他触控单元各自在至少一测试阶段中,通过多个测试信号被设置为与待测触控单元具有不同电压准位。
技术领域
本公开文件涉及一种测试方法,特别涉及一种判断整合型触控面板是否短路的测试方法。
背景技术
全内嵌式(full in-cell)整合型触控面板整合了液晶显示器和触控模块,其中整合型触控面板还包含多块平板电极组成的矩阵。于显示画面更新阶段中,这些平板电极为液晶显示器提供共同电压。于触控阶段中,平板电极则可作为触控检测元件的一部分。全内嵌式整合型触控面板通常使用双边驱动的方式,传输信号至前述的平板电极,以降低驱动线阻抗的影响。然而,在这种走线方式中,平板电极会与多条信号传输线在垂直方向上会互相重叠,使得多个平板电极有可能意外地经由信号传输线而互相短路。在多个平板电极互相短路的情况下,整合型触控面板便无法准确检测触控事件发生的位置。
发明内容
本公开文件提供一种测试方法,适用于整合型触控面板,其中整合型触控面板包含多个触控单元与多个开关群组,且多个触控单元排列成多行。测试方法包含以下步骤:利用多个开关群组接收多个测试信号,其中多个测试信号彼此不同;在多个测试阶段中,依次利用多个开关群组输出多个测试信号至多个触控单元;其中多行的一第一行包含一待测触控单元与其他触控单元,且其他触控单元各自在至少一测试阶段中,通过多个测试信号被设置为与待测触控单元具有不同电压准位(电平)。
本公开文件另提供一种整合型触控面板,整合型触控面板包含多个开关群组和多个触控单元。多个开关群组用于接收多个测试信号,其中多个测试信号彼此不同。多个触控单元排列成多行,其中于多个测试阶段中,多个开关群组依次将多个测试信号输出至多个触控单元。其中多行的一第一行包含一待测触控单元与其他触控单元,且其他触控单元各自在至少一测试阶段中,通过多个测试信号被设置为与待测触控单元具有不同电压准位。
上述的测试方法与整合型触控面板能测试多个触控单元是否在水平与垂直的方向上互相短路。
附图说明
为让公开文件的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,说明书附图的说明如下:
图1为依据本公开文件一实施例的整合型触控面板简化后的功能方框图。
图2为依据本公开文件一实施例的测试方法的流程图。
图3为依据本公开文件一实施例的控制信号与测试信号的波型示意图。
图4A~图4C为整合型触控面板于一实施例中的各个测试阶段的测试信号分布情形示意图。
图5为依据本公开文件另一实施例的控制信号与测试信号的波型示意图。
图6为依据本公开文件一实施例的测试方法的流程图。
图7A~图7C为整合型触控面板于另一实施例中的各个测试阶段的测试信号分布情形示意图。
图8A~图8C为整合型触控面板于又一实施例中的各个测试阶段的测试信号分布情形示意图。
图9为适用于图4A~图4C的实施例的开关群组的其中一者。
图10为依据本公开文件另一实施例的整合型触控面板简化后的功能方框图。
图11为依据本公开文件又一实施例的整合型触控面板简化后的功能方框图。
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