[发明专利]绝缘子老化程度的评估方法在审

专利信息
申请号: 201910375609.X 申请日: 2019-05-07
公开(公告)号: CN110261343A 公开(公告)日: 2019-09-20
发明(设计)人: 梅红伟;李岚欣;王黎明 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 曾昭毅;郑海威
地址: 518055 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 绝缘子 吸收系数 采样点 老化 评估 太赫兹波 透射模式 频率点
【说明书】:

发明提供了一种绝缘子老化程度的评估方法,包括以下步骤:从所述绝缘子上选取多个待测采样点;获取所述绝缘子于所述待测采样点处在太赫兹波透射模式下的多个频率点下的实际吸收系数;以及将所述待测采样点的实际吸收系数与标准吸收系数作比较,从而确定所述绝缘子的老化程度。本发明提供的所述绝缘子老化程度的评估方法操作简单,测试结果准确。

技术领域

本发明涉及电力设备检测领域,尤其涉及一种绝缘子老化程度的评估方法。

背景技术

高温硫化硅橡胶作为一种电气性能和机械性能均十分优良的电气绝缘材料,目前已广泛应用于高压外绝缘的各式绝缘子中,充当护套和伞裙部分。但是,在绝缘子经年累月的运行过程中,硅橡胶材料往往在外在自然条件的作用下(如光照、紫外线、风雨等)发生一定程度的老化,当其老化程度增加至某一阈值时,将严重影响绝缘子的安全性和可靠性。因此,在高压外绝缘领域,对硅橡胶材料老化程度的检测十分必要。

发明内容

有鉴于此,有必要提供一种绝缘子老化程度的评估方法。

本发明提供一种绝缘子老化程度的评估方法,包括以下步骤:

从所述绝缘子上选取多个待测采样点;

获取所述绝缘子于所述待测采样点处在太赫兹波透射模式下的多个频率点下的实际吸收系数;以及

将所述待测采样点的实际吸收系数与标准吸收系数作比较,从而确定所述绝缘子的老化程度。

本发明所具有的优点:本发明利用不同物质对太赫兹波的特异性频谱响应特征测量绝缘子的实际吸收系数,并将所述实际吸收系数与标准吸收系数比较确定其老化程度,本发明提供的所述绝缘子老化程度的评估方法操作简单,测试结果准确。

附图说明

图1是本发明较佳实施例中的绝缘子老化程度的评估方法的流程图。

图2是本发明较佳实施例中的绝缘子的纵剖面。

图3是本发明较佳实施例中的标准采样点的标准吸收系数谱线与待测采样点的实际吸收系数谱线图。

符号说明

绝缘子100
芯棒10
护套20
套体201
延伸部202

如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

具体实施方式

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