[发明专利]一种激光二极管测试设备

说明书

本发明提出一种激光二极管测试设备。所述激光二极管测试设备包括，机架；上料部，安装于机架；所述上料部用于放置待测激光二极管芯粒；传料部，安装于机架；所述传料部用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；第一测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从上料部传输到所述第一测试部，所述第一测试部对激光二极管芯粒进行测试；第二测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从第一测试部传输到第二测试部，所述第二测试部对激光二极管芯粒进行测试；收料部，安装于机架；所述传料部能够将第二测试部上的激光二极管芯粒传输到收料部。

技术领域

本发明涉及一种激光二极管测试设备。

背景技术

现有的激光二极管测试设备采用5个测试工位的布局，5个测试工位为常温后端光功率测试、常温前端光功率测试、常温光波长测试、高温前端光功率测试和高温光波长测试，此种多个工位的布局使设备占用空间大，而且每个工位需要对激光二极管芯粒进行位置和角度调节，测试效率不高。

发明内容

为解决上述激光二极管芯粒测试设备占用空间大，测试效率低的问题，本发明提出一种占用空间小、测试效率高的激光二极管测试设备方案。

本发明的技术方案为：所述激光二极管测试设备包括，

机架；

上料部，安装于机架；所述上料部用于放置待测激光二极管芯粒；

传料部，安装于机架；所述传料部用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；

第一测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从上料部传输到所述第一测试部，所述第一测试部对激光二极管芯粒进行测试；

第二测试部，安装于机架；所述传料部能够将激光二极管芯粒从第一测试部传输到第二测试部，所述第二测试部对激光二极管芯粒进行测试；

收料部，安装于机架；所述传料部能够将第二测试部上的激光二极管芯粒传输到收料部。

进一步的，所述上料部、第一测试部、第二测试部和收料部沿第一直线依次排布。

进一步的，所述第一测试部为常温测试结构；所述第二测试部为高温测试结构。

进一步的，传料部包括第一支撑部和第一取料部，所述第一支撑部连接于机架，所述第一取料部通过滑轨水平连接于第一支撑部；所述第一取料部能够用于取放芯粒。

进一步的，所述第一测试部包括，

测试承载部，连接于机架，用于放置待测试的芯粒；

第一探针部，连接于机架，用于对放置于测试承载部的芯粒电连接；

后端光功率测试部，连接于机架，用于测试芯粒后端的发光光功率；

第一前端光功率测试部，连接于机架，用于测试芯粒的前端发光光功率；

光波长测试部，连接于于机架，用于测试芯粒的前端发光波长。

进一步的，所述测试承载部设置有连接真空的吸附孔，待测试芯粒通过所述吸附孔真空吸附于测试承载部。

进一步的，所述测试承载部包括加热部和温度感应部，所述加热部调节温度使待测试的芯粒处于预设的温度环境，所述温度感应部用于检测待测芯粒所处环境的温度。

进一步的，所述第一前端光功率测试部和光波长测试部均通过滑动安装部连接于机架。

进一步的，所述第一探针部和后端光功率测试部均通过运动安装部连接于机架。

进一步的，所述运动安装部通过竖向滑轨连接于机架；