[发明专利]轮廓精度量测系统及量测方法有效
申请号: | 201910371251.3 | 申请日: | 2019-05-06 |
公开(公告)号: | CN111823057B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
发明(设计)人: | 曾郁升;吴柏勋;杨宗育;李建毅 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | B23Q17/22 | 分类号: | B23Q17/22 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王珊珊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 轮廓 精度 系统 方法 | ||
1.一种轮廓精度量测系统,用于连接具有控制器与多个轴件的工具机,其特征在于,该量测系统包括:
撷取部,用于撷取该控制器指示每个轴件运动的加工路径的反馈信号,并计算每个轴件于机械坐标系中的位置;
转换部,通信连接该撷取部,以令每个轴件的位置于该机械坐标系与工件坐标系之间进行转换;
处理部,通信连接该转换部,以演算出该加工路径于该工件坐标系中所呈现出的于斜面上的第一真圆轨迹,供作为参考信息;以及
调整部,通信连接该处理部,以依据该参考信息的每个轴件由该工件坐标系转换回该机械坐标系中的位置,调整该控制器对应每个轴件的位置的参数,以产生目标信息,其中,该目标信息包含有于该斜面上的第二真圆轨迹。
2.根据权利要求1所述的轮廓精度量测系统,其特征在于,该处理部是利用三点求圆方式演算出该第一真圆轨迹。
3.根据权利要求1所述的轮廓精度量测系统,其特征在于,该第一真圆轨迹的轮廓不同于该第二真圆轨迹的轮廓。
4.根据权利要求3所述的轮廓精度量测系统,其特征在于,该第一真圆轨迹的真圆度不同于该第二真圆轨迹的真圆度。
5.根据权利要求1所述的轮廓精度量测系统,其特征在于,该参考信息包含该第一真圆轨迹的真圆度的估测值。
6.根据权利要求1所述的轮廓精度量测系统,其特征在于,该目标信息包含该第二真圆轨迹的真圆度的估测值。
7.一种轮廓精度量测方法,应用于具有控制器及多个轴件的工具机,其特征在于,该量测方法包括:
借由电子装置撷取该控制器指示每个轴件运动的加工路径的反馈信号,以令该电子装置计算每个轴件于机械坐标系中的位置;
进行第一次坐标转换作业,以令该电子装置将每个轴件于该机械坐标系中的位置转换成于工件坐标系的位置;
进行演算作业,以演算出该加工路径于该工件坐标系中所呈现出的于斜面上的第一真圆轨迹,供作为参考信息;
进行第二次坐标转换作业,以令该电子装置将该参考信息的工件坐标系转换成该机械坐标系,使每个轴件于该工件坐标系中的位置还原成于该机械坐标系中的位置;以及
依据该参考信息的每个轴件于该机械坐标系中的位置,调整该控制器对应每个轴件的位置的参数,以产生目标信息,其中,该目标信息包含有于该斜面上的第二真圆轨迹。
8.根据权利要求7所述的轮廓精度量测方法,其特征在于,该演算作业是利用三点求圆方式。
9.根据权利要求7所述的轮廓精度量测方法,其特征在于,该第一真圆轨迹的轮廓不同于该第二真圆轨迹的轮廓。
10.根据权利要求9所述的轮廓精度量测方法,其特征在于,该第一真圆轨迹的真圆度不同于该第二真圆轨迹的真圆度。
11.根据权利要求7所述的轮廓精度量测方法,其特征在于,该第二真圆轨迹的演算过程与该第一真圆轨迹的演算过程相同。
12.根据权利要求7所述的轮廓精度量测方法,其特征在于,该参考信息包含该第一真圆轨迹的真圆度的估测值。
13.根据权利要求7所述的轮廓精度量测方法,其特征在于,该目标信息包含该第二真圆轨迹的真圆度的估测值。
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