[发明专利]一种键合丝质量检测方法

说明书

本发明涉及一种键合丝质量检测方法，属于键合丝技术领域，包括稳定性测试和信赖性测试，通过对整轴线材键合的线弧断线次数和需要停机调整的时间进行检测，对线弧进行拉力测试和冷热冲击测试，进而控制键合过程的稳定性，排除质量较低的键合丝，筛选出质量有保证的键合丝，并反馈到键合丝的生产中，及时调整和改善工艺，保证键合丝在机械力作用下、极端环境下也具有稳定的工作状态。

技术领域

本发明涉及键合丝技术领域，具体涉及一种键合丝质量检测方法。

背景技术

半导体封装用键合金丝是封装行业的基础材料之一，它决定着集成电路的发展水平，键合丝所需要的合金丝需要具备机械强度好，成球特性好，接合性好，易于作业和焊接的特性。

随着先进半导体封装技术进入中国大陆，对大陆键合金丝厂商也提出了更高的要求，键合金丝电参数、强度参数、成球参数等要求越来越高，由于封装器件尺寸的不断减小，常规的键合金丝已经达到了其能力极限，这对键合丝的性能要求也越来越高，需要有直径更细、强度更高的键合丝。

然而，键合丝直径更细会导致断线率增加，键合稳定性降低，影响键合的工作效率和产能，也会导致封装产品稳定性降低，越来越多的技术在于改进键合丝的制造工艺，以得到性能更佳优良的键合丝，然而，在实际应用过程中，除了键合丝本身的性质，键合丝的筛选和质量控制也能显著提高键合效率和产能，从而提高封装产品的质量，现有技术中，键合丝的后端测试工艺主要包括破断力测试，延伸率测试，电阻率测试和垄断电流测试，然而目前市面上封装用键合丝单轴长度在500-3000M，现有测试方法无法对整轴线的性能稳定性进行测试和筛选。

发明内容

因此，本发明为了解决现有技术键合工艺产能低，键合后稳定性不好的技术问题，提供了一种键合丝的质量检测方法。

本发明公开了一种键合丝质量检测方法，包括稳定性测试和信赖性测试，所述稳定性测试包括，取整轴线材，焊接长度相同的线弧，所述线弧的长度为2.5mm，焊接时间为12-15小时，检测断线次数；所述信赖性测试包括，将所述线弧进行拉力测试和将所述线弧封装后进行冷热冲击测试，分别检测拉力的数据集中度(CPK)和线弧封装的不良率。

优选的，还包括破断强度测试，延伸率测试、线径测试、推拉力测试。

优选的，依次按照以下步骤进行：

(4)依次检测键合丝的破断强度、延伸率和线径；

(5)对键合丝进行稳定性测试；

(6)依次对键合丝进行线弧拉力测试和冷热冲击测试。

优选的，所述整轴线材的长度为500-3000米。

优选的，所述线弧长度包括烧球所用线，每根所述线弧对应两个焊点。

优选的，所述线弧焊接时采用超声波热压键合设备。

优选的，在所述拉力测试中，对25-35pcs所述线弧的头、中、尾分别进行拉力测试和推力测试，检测拉力的数据集中度CPK。

优选的，所述信赖性测试包括以下步骤：

封装：随机取100pcs所述线弧进行封装得到封装产品；

冷热冲击：对封装的线弧以100℃作用15分钟，然后在10秒内降温至-40℃，作用15分钟，重复100-1000回合，得到封装产品的不良率。

优选的，所述破断强度和延伸率测试依据GB/T10573有色金属丝拉伸试验方法进行检测。

优选的，所述线径测试依照GB/T10577贵金属及其合金材料集合尺寸测量方法进行检测。

本发明还公开了一种所述质量检测方法在键合丝生产、应用领域的应用。