[发明专利]一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法

权利要求书

1.一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：其包括如下步骤：

S1、结构光光源设置于待检玻璃样品上方，所述结构光光源上的光强呈条纹分布，所述待检玻璃样品放置于运动扫描机构上；

S2、成像模组安装于所述待检玻璃样品斜上方，调节所述成像模组的镜头，以使其对所述待检玻璃样品清晰成像；

S3、所述结构光光源的结构光条纹沿法向平移，平移距离为所述结构光光源周期的1/N，N＝3,4,5…；

S4、所述成像模组对所述待检玻璃样品成像，所得图像中的所述待检玻璃样品被所述结构光光源调制，使得所述待检玻璃样品图像上出现明显的条纹结构；

S5、重复N次所述步骤S3和S4，获得N幅调制后的待检玻璃样品图像，记图像为I_j(j＝1，2，3，…N)；随后根据获得的N幅图像计算出每个像素对应的调制度和相位梯度，获得调制度分布图和相位梯度分布图；

S6、通过机器视觉算法或者深度学习算法，分析调制度分布图、相位梯度分布图和原始灰度图之间的特征形式，即可实现玻璃表面瑕疵的全类型检测。

2.根据权利要求1所述的一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述步骤S5中，重复4次所述步骤S3和S4，获得4幅调制后的待检玻璃样品图像，记图像为I₁、I₂、I₃、I₄，根据获得的4幅图像计算出每个像素对应的调制度和相位梯度，其中，调制度和相位梯度θ的计算公式为：

I₁＝I₀+Icos(θ)

I₃＝I₀+Icos(θ+π)

根据上述公式,I₁-I₃＝2Icos(θ),I₂-I₄＝2Isin(θ)

得到

其中，I₀为图像光强分布的基频信息，I为图像光强分布中波动信息的幅值。

3.根据权利要求1所述的一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述结构光光源的光强呈正弦型、矩形、锯齿形或者其他形式的周期条纹分布。

4.根据权利要求1所述的一种基于反射式结构光照明的玻璃瑕疵检测方法，其特征在于：所述条纹的平移次数大于3次，所述条纹为等间距或变间距平移。