[发明专利]基于光程匹配的OLED的屏幕设计方法和装置有效
| 申请号: | 201910368428.4 | 申请日: | 2019-05-05 |
| 公开(公告)号: | CN110021240B | 公开(公告)日: | 2020-01-17 |
| 发明(设计)人: | 曹良才;李儒佳;吴佳琛;袁石林;杨鑫 | 申请(专利权)人: | 清华大学;OPPO广东移动通信有限公司 |
| 主分类号: | G09F9/33 | 分类号: | G09F9/33 |
| 代理公司: | 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 张润 |
| 地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 微结构 目标层 预设 平行光束 照射 方法和装置 光学参数 几何参数 屏幕设计 光程 成像 匹配 周期性结构 成像系统 调整策略 工作波长 模糊现象 衍射 远场 重影 检测 申请 | ||
1.一种基于光程匹配的OLED的屏幕设计方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
获取待检测OLED的工作波长以及所述OLED中各层微结构的光学参数和几何参数;
根据所述光学参数和几何参数获取所述OLED中每层微结构在平行光束照射下的远场衍射分布;
根据所述远场衍射分布确定不满足预设相位均匀分布条件的目标层微结构;
根据预设的调整策略和所述预设相位均匀分布条件对所述目标层微结构进行调整,以使得调整后的目标微结构在所述平行光束照射下满足所述预设相位均匀分布条件。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据预设的调整策略和所述预设相位均匀分布条件对所述目标层微结构进行调整,包括:
根据所述目标层微结构的光学参数和几何参数,获取所述工作波长下所述目标层微结构的光程和相位;
根据所述光程、相位和所述预设相位均匀分布条件确定所述目标层微结构的厚度调整参数,并根据所述厚度调整参数调整所述目标层微结构的厚度。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据预设的调整策略和所述预设相位均匀分布条件对所述目标层微结构进行调整,包括:
获取所述目标层微结构对应的多个候选材料;
获取各候选材料对应的折射率,根据所述折射率和所述预设相位均匀分布条件,确定目标折射率;
根据所述目标折射率对应的目标材料替换所述目标层微结构的原材料。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光学参数包括折射率和透射率。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述几何参数包括所述OLED各层材料的尺寸。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标层微结构的光学参数和几何参数,获取所述工作波长下所述目标层微结构的光程和相位,包括:
通过预设公式对所述目标层微结构的光学参数和几何参数进行计算,获取所述工作波长下所述目标层微结构的光程和相位,其中,所述预设公式为:
其中,所述目标层微结构为第i层,OPi表示所述OLED第i层的光程,φi(xi,yi)表示所述OLED第i层的相位,kλ0表示所述工作波长λ0下的波数,Δ(xi,yi)表示所述OLED第i层的几何参数,T(xi,yi)表示所述OLED第i层的光学参数。
7.一种基于光程匹配的OLED的屏幕设计装置,其特征在于,所述装置包括以下步骤:
第一获取模块,用于获取待检测OLED的工作波长以及所述OLED中各层微结构的光学参数和几何参数;
第二获取模块,用于根据所述光学参数和几何参数获取所述OLED中每层微结构在平行光束照射下的远场衍射分布;
确定模块,用于根据所述远场衍射分布确定不满足预设相位均匀分布条件的目标层微结构;
调整模块,用于根据预设的调整策略和所述预设相位均匀分布条件对所述目标层微结构进行调整,以使得调整后的目标微结构在平行光束照射下满足所述预设相位均匀分布条件。
8.如权利要求7所述的装置,其特征在于,所述调整模块,具体用于:
根据所述目标层微结构的光学参数和几何参数,获取所述工作波长下所述目标层微结构的光程和相位;
根据所述光程、相位和所述预设相位均匀分布条件确定所述目标层微结构的厚度调整参数,并根据所述厚度调整参数调整所述目标层微结构的厚度。
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