[发明专利]AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法

权利要求书

1.一种AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，包括：

第一开关(SW1)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第一数据信号(Data R/B)，输出端连接第一检测数据信号线(CT R)；

第二开关(SW2)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第二数据信号(Data B/R)，输出端连接第二检测数据信号线(CT B)；

第三开关(SW3)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第三数据信号(DataG)，输出端连接第三检测数据信号线(CT G)；

面板内的数据线按照其所连接子像素的排列方式分为第一类数据线、第二类数据线及第三类数据线，第一检测数据信号线(CT R)连接第一类数据线，第二检测数据信号线(CTB)连接第二类数据线，第三检测数据信号线(CT G)连接第三类数据线；

第一检测数据信号线(CT R)、第二检测数据信号线(CT B)及第三检测数据信号线(CTG)在面板有效显示区两侧分别设有对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线，并且在面板有效显示区内垂直于数据线方向按照预设间隔分别设有连接两侧对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线的多条第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线。

2.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，所述第一类数据线所连接的子像素按照R子像素、B子像素交替排列；所述第二类数据线所连接的子像素按照B子像素、R子像素交替排列；所述第三类数据线所连接的子像素均为G子像素。

3.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，成盒检测时，所述第一数据信号(Data R/B)、第二数据信号(Data B/R)及第三数据信号(Data G)采用时钟信号实现纯色/或色条画面检测。

4.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，所述成盒检测电路还连接成盒检测焊盘，所述成盒检测焊盘用于向成盒检测电路提供所述第一数据信号(Data R/B)、第二数据信号(Data B/R)及第三数据信号(Data G)。

5.如权利要求4所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，所述成盒检测焊盘数量为两个，并且分别位于有效显示区下方的两侧。

6.如权利要求5所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，所述成盒检测电路的主体位于有效显示区上方。

7.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，当面板内数据线未发生断路时，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线不与数据线连接。

8.如权利要求1所述的AMOLED面板成盒检测电路，其特征在于，当面板内某一数据线的某一位置具有断路时，所述第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线其中一种连接所述某一数据线以修复在所述某一位置的断路。

9.一种应用如权利要求1所述AMOLED面板成盒检测电路修复数据线的方法，其特征在于，包括：

步骤10、通过成盒检测电路检测面板有效显示区内某一数据线在其某一位置的断路；

步骤20、在所述某一数据线的所述某一位置两侧分别选取一个位置，从第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线中选取一种以在所述选取的位置连接所述某一数据线以修复其在所述某一位置的断路；

步骤30、在模组段切断成盒检测焊盘向成盒检测电路所提供的第一数据信号(Data R/B)、第二数据信号(Data B/R)和第三数据信号(Data G)。

10.如权利要求9所述的修复数据线的方法，其特征在于，还包括：步骤21、重复步骤10及步骤20，以修复所述某一数据线上所有位置的断路。