[发明专利]一种自适应频响特性测试装置及方法

权利要求书

1.一种自适应频响特性测试装置，其特征在于，包括电光转换模块、自适应衰减模块、光电探测模块和光波元件分析仪总控模块，所述电光转换模块用于将电信号转换为光信号输出；将输出的光信号输入到被测件中，作为被测件的输入信号；所述自适应衰减模块用于接收被测件输出的光信号，并根据光波元件分析仪总控模块发送的光电探测器功率探测范围进行自适应衰减调整，将光信号衰减后输出，并将衰减值发送到光波元件分析仪总控模块；所述光电探测模块用于接收自适应衰减模块输出的光信号，并转换为电信号输出到光波元件分析仪总控模块；所述光波元件分析仪总控模块用于根据光电探测模块传回的电信号和自适应衰减模块的衰减值计算频率响应参数；

所述自适应衰减模块包括光开关、光探测器、反馈控制器和可调光衰减器，所述光开关的一端与可调光衰减器的光输出端连接，另一端分别与自适应衰减模的光输出端和光探测器的输入端选择连接，所述光探测器的输出端通过反馈控制器与可调光衰减器连接；所述可调光衰减器用于接收被测件输出的光信号，根据光波元件分析仪总控模块发送的光电探测器功率探测范围和反馈控制器发送的反馈信号进行衰减值调整，并将衰减值发送到光波元件分析仪总控模块；

采用光路去嵌入方法去除自适应衰减模块的引入带来的影响。

2.一种利用权利要求1所述的自适应频响特性测试装置的测试方法，其特征在于，步骤如下：

光波元件分析仪总控模块将光电探测器功率探测范围发送给自适应衰减模块；

自适应衰减模块通过可调光衰减器调整衰减值，使得探测器探测功率值调整到光电探测模块测量范围内；

自适应衰减模块将衰减值发送给光波元件分析仪总控模块，并调整光开关使光输出至光电探测模块；

光波元件分析仪总控模块进行测量，得到被测件精确的频率响应参数。

3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述自适应衰减模块将可调光衰减器调整到最大衰减值，光开关调整到探测器端，探测器将探测光功率值发送给反馈控制器，反馈控制器调整光衰减器衰减值，使得探测器探测功率值调整到光电探测模块功率探测范围内。

4.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，光电探测模块的功率探测范围为P_S至P_E，自适应衰减模块的输入光功率为P₀，可调光衰减器的衰减值调节范围为(P₀-P_S)至(P₀-P_E)。

5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述可调光衰减器的衰减值为(2P₀-P_S-P_E)/2。