[发明专利]干式空心并联电抗器低温通流模拟测试系统及其试验方法

权利要求书

1.一种干式空心并联电抗器低温通流模拟测试系统，其特征在于，包括干式穿墙套管(1)、低温柜(2)、第一温度传感器(4)、应力传感器(5)、应变解调仪(8)、接触式测温仪(9)、电流互感器(10)和电流发生器(11)；其中，

所述第一温度传感器(4)的数量至少为两个，分别安装在所述干式空心并联电抗器(3)的绕组匝之间和内外包封的表面，且与所述接触式测温仪(9)连接，用于检测干式空心并联电抗器(3)通流后绕组与包封之间的温差；

所述应力传感器(5)的数量至少为两个，分别安装在所述干式空心并联电抗器(3)的绕组匝之间和内外包封的表面，且与所述应变解调仪(8)连接，用于检测所述干式空心并联电抗器(3)通流暂态过程的温致应力；

所述干式空心并联电抗器(3)置于所述低温柜(2)的内部，所述干式穿墙套管(1)的一端深入到所述低温柜(2)的内部与所述干式空心并联电抗器(3)一端连接，所述干式穿墙套管(1)的另一端与所述电流发生器(11)的输出端连接，所述干式空心并联电抗器(3)另一端的引出线穿过所述电流互感器(10)，与所述电流发生器(11)的输入端连接。

2.如权利要求1所述的干式空心并联电抗器低温通流模拟测试系统，其特征在于，还包括：

第二温度传感器(6)，所述第二温度传感器(6)安装在所述低温柜(2)的柜体上，用于监测所述低温柜(2)内部的温度。

3.如权利要求1所述的干式空心并联电抗器低温通流模拟测试系统，其特征在于，还包括：

湿度传感器(7)，安装在所述低温柜(2)的柜体上，用于监测所述低温柜(2)内部的湿度。

4.如权利要求1所述的干式空心并联电抗器低温通流模拟测试系统，其特征在于，所述干式穿墙套管(1)的一端深入到所述低温柜(2)的内部与所述干式空心并联电抗器(3)顶部的星型架连接，所述干式空心并联电抗器(3)底部的星型架的引出线穿过所述电流互感器(10)，与所述电流发生器(11)的输入端连接。

5.如权利要求1所述的干式空心并联电抗器低温通流模拟测试系统，其特征在于，所述干式穿墙套管(1)的首端与所述电流发生器(11)的输出端连接，所述干式穿墙套管(1)的尾端深入到所述低温柜(2)的内部与所述干式空心并联电抗器(3)的顶部星型架连接。

6.一种干式空心并联电抗器低温通流模拟测试方法，包括如下步骤：

步骤S1：启动低温柜(2)制冷，保持内部温度在预设温度范围内，每隔第一预设时间间隔记录一次应力传感器(5)的应力示数，直到第一温度传感器(4)显示的绕组与包封之间的温差为零；

步骤S2：通过电流发生器(11)向干式空心并联电抗器(3)施加额定电流，每隔小于所述第一预设时间间隔的第二预设时间间隔记录所述第一温度传感器(4)的温度示数及所述应力传感器(5)的应力示数，持续记录数据，直到所述第一温度传感器(4)和所述应力传感器(5)的示数变化量均小于1％；

步骤S3：将所述应力传感器(5)检测到的最大应力示数值P_应力与所述干式空心并联电抗器(3)的包封绝缘拉伸强度P_拉伸强度相比较，评估干式空心并联电抗器低温运行的绝缘状态。

7.如权利要求6所述的干式空心并联电抗器低温通流模拟测试方法，其中，所述预设温度范围在零下10℃-零下40℃之间。

8.如权利要求6所述的干式空心并联电抗器低温通流模拟测试方法，其中，所述第一预设时间间隔为20-30分钟。

9.如权利要求6所述的干式空心并联电抗器低温通流模拟测试方法，其中，所述第二预设时间间隔为10-15分钟。

10.如权利要求6所述的干式空心并联电抗器低温通流模拟测试方法，其中，

当P_拉伸强度＞＞1.3时，则判定所述干式空心并联电抗器(3)的低温运行绝缘状态差；

当时，则判定所述干式空心并联电抗器(3)的低温运行绝缘状态良好；

当时，则判定所述干式空心并联电抗器(3)的低温运行绝缘状态一般。