[发明专利]芯片采样准位确定方法及装置

说明书

本公开的实施例提供了一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备。该芯片采样准位确定方法包括：获取待测芯片的指定通道上的数据信号；按照第一间隔给所述数据信号设置多个第一测试采样点；根据准位电压确定各第一测试采样点相应的第一信号或者第二信号；按照各第一测试采样点对应的采样位置的顺序，对相应的第一信号或者第二信号进行排序；根据排序后的第一信号和第二信号，确定所述待测芯片的采样准位。本公开实施例的技术方案能够实现待测芯片的采样准位的自动准确定位。

技术领域

本公开涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备。

背景技术

通过测试机对内存芯片进行读取数据的测试时，需要首先确定测试机的信号采样点。由于每一颗内存芯片输出数据信号的时间起始点都不尽相同，若采用不准确的信号采样点对内存芯片输出的数据信号进行采样，测试机可能采样到错误的信号，导致读取的数据不准确，从而影响测试结果。

因此，如何能够实现内存芯片的采样准位的准确定位是目前亟待解决的技术问题。

发明内容

本公开实施例的目的在于提供一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备，进而至少在一定程度上实现内存芯片的采样准位的准确定位。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种芯片采样准位确定方法，包括：获取待测芯片的指定通道上的数据信号；按照第一间隔给所述数据信号设置多个第一测试采样点；根据准位电压确定各第一测试采样点相应的第一信号或者第二信号；按照各第一测试采样点对应的采样位置的顺序，对相应的第一信号或者第二信号进行排序；根据排序后的第一信号和第二信号，确定所述待测芯片的采样准位。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种芯片采样准位确定装置，包括：数据信号获取模块，配置为获取待测芯片的指定通道上的数据信号；第一采样设置模块，配置为按照第一间隔给所述数据信号设置多个第一测试采样点；数字信号转换模块，配置为根据准位电压确定各第一测试采样点相应的第一信号或者第二信号；数字信号排序模块，配置为按照各第一测试采样点对应的采样位置的顺序，对相应的第一信号或者第二信号进行排序；采样准位确定模块，配置为根据排序后的第一信号和第二信号，确定所述待测芯片的采样准位。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述实施例中所述的芯片采样准位确定方法。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如上述实施例中所述的芯片采样准位确定方法。

在本公开的一些实施例所提供的技术方案中，利用测试机可编程功能以及待测芯片的语言规则，读取待测芯片的指定通道的数据信号，然后按照第一间隔给所述数据信号分别设置多个第一测试采样点，并将各第一测试采样点的采样信号通过与准位电压比较，转换为第一信号或者第二信号，从而可以实现根据所述第一信号和第二信号来确定该待测芯片的采样准位，一方面，这种方式可以校准测试机对不同待测芯片的采样准位，减少测试时间，使得测试更加自动化；另一方面，还可以提高待测芯片的采样准位的准确度，从而可以确保后续测试结果的精准度，甚至在高速测试中也能保证测试机采样到准确的信号。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明