[发明专利]一种显示面板及其测试方法、显示装置

说明书

本发明公开了一种显示面板及其测试方法、显示装置，显示面板包括显示区以及位于显示区至少一侧的引脚区；显示面板的引脚区设置有多个连接引脚和至少一个第一控制引脚，连接引脚划分为多个第一连接引脚组，每个第一连接引脚组包括相邻的两个连接引脚，每个连接引脚仅位于一个第一连接引脚组中；第一控制引脚上加载的控制信号用于控制每个第一连接引脚组中的两个连接引脚是否短接。通过本发明的技术方案，有利于实现对测试装置的测试探针是否与显示面板中对应的连接引脚电接触的测试，从而实现对显示面板显示效果的测试。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试方法、显示装置。

背景技术

为了实现对显示面板显示效果的测试，在测试装置向显示面板加载相应的显示信号之前，需要先对探测装置中的测试探针是否与显示面板中对应的引脚良好接触进行测试，以确保测试装置能够准确地向显示面板加载显示信号。

目前可通过显微镜观察测试装置的测试探针扎在显示面板的引脚上的痕迹判断测试装置的测试探针是否扎在了显示面板中对应的引脚上，即使通过显微镜的观察确认测试探针扎在了显示面板中对应的引脚上，测试探针到显示面板中对应的引脚的信号通路是否正常仍然无法获知。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种显示面板及其测试方法、显示装置，有利于实现对测试装置的测试探针是否与显示面板中对应的连接引脚电接触的测试，从而实现对显示面板显示效果的测试。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，所述显示面板包括显示区以及位于所述显示区至少一侧的引脚区；

所述显示面板的引脚区设置有多个连接引脚和至少一个第一控制引脚，所述连接引脚划分为多个第一连接引脚组，每个所述第一连接引脚组包括相邻的两个所述连接引脚，每个所述连接引脚仅位于一个所述第一连接引脚组中；

所述第一控制引脚上加载的控制信号用于控制每个所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接。

进一步地，所述显示面板的引脚区设置有与所述第一连接引脚组一一对应设置的第一开关元件，所述第一控制引脚通过所述第一开关元件控制对应的所述第一连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

优选地，与所述至少一个第一控制引脚电连接的第一信号线作为所述第一开关元件的栅极，所述第一连接引脚组中的所述连接引脚连接至所述显示区中器件的第二信号线分别作为所述第一开关元件的源极和漏极；所述第一开关元件的半导体层位于所述第一信号线与所述第二信号线之间或者所述第一开关元件的半导体层位于所述第一信号线远离所述第二信号线的一侧。

进一步地，所述显示面板的引脚区设置有两个所述第一控制引脚，沿所述连接引脚的排列方向，一个所述第一控制引脚位于所有所述连接引脚的一侧，另一个所述第一控制引脚位于所有所述连接引脚的另一侧。

进一步地，所述显示面板的引脚区还设置有至少一个第二控制引脚，所述连接引脚划分为多个第二连接引脚组，每个所述第二连接引脚组包括相邻的两个所述连接引脚，每个所述连接引脚仅位于一个所述第二连接引脚组中，所述第二连接引脚组与相邻的所述第一连接引脚组包括同一个所述连接引脚；所述第二控制引脚上加载的控制信号用于控制每个所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

优选地，所述显示面板的引脚区设置有与所述第二连接引脚组一一对应设置的第二开关元件，所述第二控制引脚通过所述第二开关元件控制对应的所述第二连接引脚组中的两个所述连接引脚是否短接；

优选地，与所述至少一个第二控制引脚电连接的第三信号线作为所述第二开关元件的栅极，所述第二连接引脚组中的所述连接引脚连接至所述显示区中器件的第四信号线分别作为所述第二开关元件的源极和漏极；所述第二开关元件的半导体层位于所述第三信号线与所述第四信号线之间或者所述第二开关元件的半导体层位于所述第三信号线远离所述第四信号线的一侧；