[发明专利]检测光纤传像元件中光纤间光串扰透过率的装置

说明书

本发明是关于一种检测光纤传像元件中光纤间光串扰透过率的装置，其包括：检测系统和控制系统；所述检测系统包括：柜体，防止外界光线进入所述检测系统，为检测提供避光环境；光源，用于提供检测所需的光；测量模板，为检测提供标准图案；及图像采集机构，用于采集所述标准图案在待测光纤传像元件上形成的图像；所述控制系统包括：图像数据处理单元及控制单元。本发明装置采用具有标准图案的测量模板，使标准图案经待测光纤传像元件传输后形成图像，对图像数据进行分析得到透过率值，用于表征光纤间的杂光串扰性能。本发明装置可提高检测结果的可靠性、准确性，并降低检测成本以及检测结果对外界条件的依赖度。

技术领域

本发明涉及一种自动化检测装置，特别是涉及一种检测光纤传像元件中光纤间光串扰透过率的装置。

背景技术

当前，超二代和三代微光夜视技术向4G技术发展，要求光谱响应波长向长波和短波方向延伸、成像质量因子超过1800、高于57lp/mm的成像分辨率和更高的成像分辨力。光纤间的杂光串扰是恶化成像清晰度，降低对比度的主要因素。如何表征光纤传像元件中杂光串扰性能就成为一个重要的问题。

目前与光串扰性能评价相关的表征方法是刀口响应值，通过测量光线经光纤传像材料透过刀口的光亮度。该方法仍是目前国内光纤传像元件制造者普遍采用的表征光串扰性能的指标。对于杂光串扰性能的表征，国内外还没有统一标准。用刀口响应值表征光串扰性能从检测的角度来看存在三个明显的不足：一是测量值不准确，测试条件与实际使用环境不一致，制样复杂且制样对测量结果影响较大，从而导致检测结果的稳定性或者说可靠性存在问题，往往一个样品的刀口响应值多次检测量的结果存在较大的差异，最大偏差可超到50％。其二是该方法不具有普适性。对于光纤传像元件在测试厚度上有范围要求，不能直接检测高于一定厚度的产品。这样，无论是光纤直板、光纤倒像器和光纤光锥产品，都是一种间接的测试表征，只能对被测产品的部分区域进行测试，且切片位置往往不能代表整个被测产品的整体光串扰性能。其三是目前这种刀口响应测量设备在国内也仅有一台，测试精度随设备老化严重降低，也有逐渐被淘汰的趋势。因此，发明一种新的杂光串扰性能的表征方法的装置是非常紧迫和必要。

发明内容

本发明的主要目的在于，提供一种检测光纤传像元件中光纤间光串扰透过率的装置，基于灰度值归一化的光透过率表征光串扰性能，提高检测结果的可靠性、准确性，同时还可以显著提高检测效率，从而降低检测成本以及检测结果对外界条件的依赖度。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种检测光纤传像元件中光纤间光串扰透过率的装置，包括：检测系统和控制系统，其中，

所述检测系统包括：

柜体，防止外界光线进入所述检测系统，为检测提供避光环境；

光源，用于提供检测所需的光；

测量模板，为检测提供标准图案，所述测量模板由第一区域和第二区域组成，所述第一区域的透过率小于所述第二区域的透过率，两者的透过率之差大于90％；

在使用时，将待测光纤传像元件的第一表面与所述测量模板贴合，所述光源射出的光线依次经所述测量模板和所述待测光纤传像元件后，在所述待测光纤传像元件的与所述第一表面相对的第二表面形成第一图像和第二图像，其中所述第一图像与所述第一区域对应，所述第二图像与所述第二区域对应；及

图像采集机构，用于采集所述标准图案在待测光纤传像元件上形成的图像；

所述光源、测量模板和图像采集机构依次设置在所述柜体内；

所述光源和图像采集机构同轴设置，所述测量模板垂直于所述光源的轴线；

所述控制系统包括：

图像数据处理单元，连接于所述图像采集机构，用于对所述图像采集机构采集的图像进行处理，得到光透过率值；及