[发明专利]生成描述子的方法及装置、存储介质有效

专利信息
申请号: 201910347516.6 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN110059708B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 刘凯;汪侃;胡子阳;许斌;刘怡光 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G06V10/50 分类号: G06V10/50;G06V10/44
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 杨奇松
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 生成 描述 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种生成描述子的方法,其特征在于,所述方法包括:

获取待生成描述子的图像特征点对应的预先确定的预设数量的采样点对;

获取每个采样点对中的两个采样点的灰度值的差值、灰度梯度绝对值和的差值;

将所述灰度值的差值、所述灰度梯度绝对值和的差值分别与预设的差值阈值进行比较,得到比较结果;

根据所述比较结果生成所述特征点的描述子,所述描述子的维数为所述预设数量的两倍;

在获取待生成描述子的图像特征点对应的预先确定的预设数量的采样点对之前,所述方法还包括:

获取预设的采样模式,所述采样模式用于指示所述图像特征点的采样点的分布规则;

根据所述采样模式确定所述图像特征点的多个采样点的坐标;

在根据所述采样模式确定所述图像特征点的多个采样点的坐标之前,所述方法还包括:

获取所述特征点的主方向;

基于所述主方向,将所述多个采样点与中心采样点的连线对应的方向与所述主方向对齐;

根据所述采样模式确定所述图像特征点的多个采样点的坐标,包括:

确定出一个以所述特征点为中心的区域;

在所述区域中,根据所述特征点的尺度确定出以所述特征点为圆心的多个同心圆以及每个同心圆的半径;

根据所述特征点的尺度以及每个同心圆的半径确定所述多个采样点的参数;所述采样点的参数包括采样点的平滑半径、采样点所在的同心圆层数、采样点所在的同心圆半径、采样点的编号;

根据所述采样点的参数以及所述特征点的主方向确定所述多个采样点的坐标;

根据所述特征点的尺度确定出以所述特征点为圆心的多个同心圆以及每个同心圆的半径,包括:

确定出五个以特征点为中心的同心圆,其中,从内到外的同心圆半径分别为所述特征点的尺度的3倍、4.5倍、5倍、7倍、9倍;

对应的,根据所述特征点的尺度以及每个同心圆的半径确定所述多个采样点的参数包括:

确定内三层的每个同心圆上分布八个采样点,所述八个采样点的平滑半径为所述特征点的尺度的1.3倍;

确定外两层的每个同心圆上分布十六个采样点,所述十六个采样点的平滑半径为所述特征点的尺度的1.6倍。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取每个采样点对中的两个采样点的灰度值的差值、灰度梯度绝对值和的差值,包括:

根据所述两个采样点的坐标确定所述两个采样点的灰度值以及灰度梯度绝对值和;

计算所述两个采样点的灰度值的差值、灰度梯度绝对值和的差值。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述采样模式确定所述图像特征点的多个采样点的坐标,包括:

获取预先存储的坐标查找表,所述坐标查找表中存储有不同的特征点主方向下每个采样点的坐标;

根据所述特征点的主方向、每个采样点的编号以及所述查找表确定所述多个采样点的坐标。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取待生成描述子的图像特征点对应的预先确定的预设数量的采样点对之前,所述方法还包括:

确定多个样本特征点,所述样本特征点的采样模式与所述图像特征点的采样模式相同;

针对每个样本特征点,确定多个样本采样点对,所述样本采样点对的数量大于所述预设数量;

对每个样本采样点对中的两个采样点进行灰度值比较,生成灰度值比较结果;

根据所述多个样本特征点的灰度值比较结果和选取标准从所述多个样本采样点对中确定出预设数量的采样点对;

将所述预设数量的采样点对确定为所述图像特征点对应的采样点对。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述灰度值的差值、所述灰度梯度绝对值和的差值分别与预设的差值阈值进行比较,得到比较结果,包括:

若所述灰度值的差值或者所述灰度梯度绝对值和的差值大于所述差值阈值,将所述比较结果标记为1;

若所述灰度值的差值或者所述灰度梯度绝对值和的差值小于或者等于所述差值阈值,将所述比较结果标记为0;

对应的,根据所述比较结果生成所述特征点的描述子,包括:

将每次比较结果的标记确定为当前维数的描述子的比特位。

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