[发明专利]高精度测量的双显定长检测仪有效

专利信息
申请号: 201910346613.3 申请日: 2019-04-27
公开(公告)号: CN110006313B 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 李俊 申请(专利权)人: 李俊
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 11429 北京中济纬天专利代理有限公司 代理人: 陆军<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 237000 安徽省六安市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 对比装置 测量 粗调机构 调整装置 微调机构 伸长量 高精度测量 显示机构 检测仪 定长 大批量物件 尺寸测量 调整数据 物件 微调
【说明书】:

发明提供了高精度测量的双显定长检测仪,包括调整装置、测量对比装置,所述的测量对比装置用于对物件进行尺寸测量或为大批量物件提供对比参照作用,所述的调整装置用于调整测量对比装置的伸长量,所述的调整装置包括粗调机构、微调机构、显示机构,粗调机构用于快速粗略调整测量对比装置的伸长量,微调机构用于微调测量对比装置的伸长量并提高其测量/对比精度,显示机构用于显示粗调机构与微调机构的调整数据。

技术领域

本发明涉及检测领域,具体涉及一种尺寸测量对比仪器。

背景技术

长度检测是机械加工中最常用的一种零件尺寸检测,目前用于长度检测的有游标卡尺、刻度尺、卷尺等,但在具体检测过程中,由于人工目测存在较大的偏差,导致其检测尺寸误差大,对于使用场合要求不高的零部件,完全能够满足其测量要求,但对于长度要求高、精度准的零部件,却无法满足其测量要求,除此之外,对于大批量物件的尺寸检测,往往是人工测量,测量效率低,且测量时人为因素较多,存在一定偏差;因此,为解决上述问题,本发明提供一种长度检测对比仪器。

发明内容

为解决现有技术的不足,本发明的目的是提供一种尺寸测量对比仪器,整个测量过程复位粗调与微调两部分,使得本检测仪的测量精度更高,并可快速对大批量的物件进行尺寸对比。

为实现上述技术目的,本发明所采用的技术方案如下。

高精度测量的双显定长检测仪,包括调整装置、测量对比装置,测量对比装置用于对物件进行尺寸测量或为大批量物件提供对比参照作用,调整装置用于调整测量对比装置的伸长量;

所述的调整装置包括粗调机构、微调机构、显示机构,粗调机构用于快速粗略调整测量对比装置的伸长量,微调机构用于微调测量对比装置的伸长量并提高其测量/对比精度,显示机构用于显示粗调机构与微调机构的调整数据。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的显示机构包括安装外壳、显示盘,安装外壳为两端开口的壳体结构,显示盘固定安装于安装外壳外表面,安装外壳上开设有穿设孔a,且显示盘上开设有与穿设孔a同轴布置的穿设孔b。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的粗调机构包括用于被使用者粗调转动的粗调转筒、用于传递并显示粗调结果数据的粗调显示构件;

所述的粗调转筒为由两组呈半圆柱筒体的粗调转壳构成的圆柱筒体结构,且粗调转筒两端开口,粗调转筒的一开口端与安装外壳的一开口端之间活动安装,且粗调转筒可绕自身轴向转动;

所述的粗调显示构件包括粗调齿圈、中间齿轮a、齿轮轴a,粗调齿圈与粗调转筒之间设置有固定件且两者之间通过固定件进行同轴固定连接,齿轮轴a轴向平行于粗调转筒轴向,齿轮轴a活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动,中间齿轮a固定套接于齿轮轴a外部并与粗调齿圈啮合;

所述的粗调显示构件还包括中间蜗杆、中间涡轮、齿轮轴b,中间蜗杆与齿轮轴a之间同轴固定连接,齿轮轴b轴向垂直于粗调转筒轴向,齿轮轴b活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动,中间涡轮固定套接于齿轮轴b外部并与中间蜗杆啮合;

所述的粗调显示构件还包括中间齿轮b、粗调齿轮、粗调转轴,中间齿轮b固定套接于齿轮轴b外部,粗调转轴轴向平行于齿轮轴b轴向,粗调转轴活动安装于安装外壳内并可绕自身轴向转动,且粗调转轴的一端穿过穿设孔a、穿设孔b并位于显示盘背离安装外壳的一侧,并且该端设置有粗调指针,粗调齿轮固定套接于粗调转轴外部并与中间齿轮b啮合。

作为本技术方案的进一步改进。

所述的微调机构设置于粗调机构背离安装外壳的一侧,微调机构包括用于被使用者微调转动的微调转筒、用于传递并显示微调结果数据的微调显示构件;

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