[发明专利]基于传感技术的轴类零件测量装置及其测量方法在审

专利信息
申请号: 201910343539.X 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN110044313A 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 徐旭松;朱敏浩;刘春秋;叶超;许孟然;刘建;刘梦;曹清林 申请(专利权)人: 江苏理工学院
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10;G01B21/24
代理公司: 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人: 王巍巍
地址: 213001 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 第二传感器 第一传感器 测轴 第二测量尺 第一测量尺 信号调理器 测量架 龙门 轴类零件测量 传感技术 固定设置 机械加工测量 数据处理器 固定顶尖 滑动顶尖 滑动连接 滑动设置 轴线垂直 电连接 计算机 底端 连线 装夹 过滤 测量 传送 放大
【说明书】:

发明属于机械加工测量技术领域,尤其涉及一种基于传感技术的轴类零件测量装置,包括基座、龙门测量架、第一测量尺、第二测量尺、信号调理器和计算机,龙门测量架的底端沿X方向与基座滑动连接,第一测量尺和第二测量尺分别沿Z方向滑动设置在龙门测量架的两侧,第一测量尺上固定设置有第一传感器,第二测量尺上固定设置有第二传感器,基座上设置有用于装夹待测轴的固定顶尖和滑动顶尖,待测轴的轴线朝向X方向,待测轴位于第一传感器和第二传感器之间,且第一传感器和第二传感器的连线与待测轴的轴线垂直;信号调理器用于接收第一传感器和第二传感器传送的信号,并进行信号的放大和过滤,信号调理器通过数据处理器与计算机电连接。

技术领域

本发明属于机械加工测量技术领域,尤其涉及一种基于传感技术的轴类零件测量装置及其测量方法。

背景技术

随着各项技术的不断进步,传统的工件检测装置已经很难满足行业的需求,如今,对于一些精度要求很高的工件检测不仅对零件的尺寸、形位公差和粗糙度等要求很高,而且对于检测的效率也相当注重。而传统的量具如游标卡尺、百分表、千分尺等测量误差大,因此这类量具已经不能满足精度高、效率高、可靠性高的精密零件的检测。而国外,由于对计算机技术、传感技术以及自动控制技术的应用,其检测技术得到了大幅度的进步,同时也出现了许许多多新型的检测装置以及测量方法。由于加工制造技术的不断提高,这就给测量装置和测量方法提出了更高的要求,即测量装置和测量方法要能提高生产效率、节约生产成本并提高生产质量。当前,有一些高精密的测量装置,比如三坐标测量仪,其测量精度高、测量速度快,但是对环境要求特别高,也需要工作人员具备一些理论基础和操作能力,价格还比较贵,不适合推广。本发明提供一种基于传感技术的轴类零件测量装置通过利用传感器测量轴类零件的同轴度以及轴径,达到操作简单,计算简单,结果精确,使用范围较广,有一定的市场推广前景。

发明内容

为解决现有技术存在的如使用游标卡尺、百分表、千分尺等传统量具测量轴类零件的同轴度和轴径,存在操作繁复和测量精度不高的问题,本发明提供一种基于传感技术的轴类零件测量装置及其测量方法。

为解决上述技术问题,本发明所采用的技术方案如下,一种基于传感技术的轴类零件测量装置,包括基座、龙门测量架、第一测量尺、第二测量尺、信号调理器和计算机,所述龙门测量架的底端沿X方向与基座滑动连接,所述第一测量尺和第二测量尺分别沿Z方向滑动设置在龙门测量架的两侧,所述第一测量尺上固定设置有第一传感器,所述第二测量尺上固定设置有第二传感器,所述基座上设置有用于装夹待测轴的固定顶尖和滑动顶尖,所述待测轴的轴线朝向X方向,所述待测轴位于第一传感器和第二传感器之间,且所述第一传感器和第二传感器的连线与待测轴的轴线垂直;

所述信号调理器用于接收第一传感器和第二传感器传送的信号,并进行信号的放大和过滤,所述信号调理器通过数据处理器与所述计算机电连接。

作为优选,该轴类零件测量装置还包括n型连接件,所述n型连接件包括横杆和位于横杆两侧的连杆,两侧的所述连杆分别与第一测量尺和第二测量尺固定连接。n型连接件便于第一测量尺和第二测量尺同时沿Z方向滑动,简化操作步骤,同时提高第一测量尺和第二测量尺的定位精度。

作为优选,所述第一测量尺上设置有用于锁定第一测量尺的第一锁紧装置,所述第二测量尺上设置有用于锁定第二测量尺的第二锁紧装置。第一锁紧装置和第二锁紧装置的设置便于测量过程中第一测量尺和第二测量尺的锁紧定位,提高该测量装置的可靠性和稳定性。

作为优选,所述第一锁紧装置包括第一锁紧螺钉,当所述第一锁紧螺钉在第一测量尺上旋紧定位时,其尾端与龙门测量架接触,所述第二锁紧装置包括第二锁紧螺钉,当所述第二锁紧螺钉在第二测量尺上旋紧定位时,其尾端与龙门测量架接触。

作为优选,所述龙门测量架的两侧沿Z方向均刻设有大刻度,所述第一测量尺和第二测量尺上沿Z方向均刻设有与大刻度配合的小刻度。大刻度和小刻度配合形成类似于游标卡尺结构,读数更加精准,提高该测量装置的测量精度。

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