[发明专利]一种天线面形测量方法

权利要求书

1.一种天线面形测量方法，其特征在于，包括：

将待测天线的馈源对准微波信号源并固定；

在待测天线的馈源前端放置波束遮盖，所述波束遮盖将进入馈源的微波波束均匀划分成若干份，并控制每一份波束是否进入馈源；

依次控制每一份波束轮流进入馈源，并测量和记录每一份波束的强度数据；

依次控制每相邻两份波束轮流进入馈源，并测量和记录每相邻两份波束的强度数据；

依次控制每相间两份波束轮流进入馈源，并测量和记录每相间两份波束的强度数据；

根据每一份波束的强度数据、每相邻两份波束的强度数据和每相间两份波束的强度数据代数求解不同波束区域对应的反射面面板之间的法向相对位置偏差。

2.根据权利要求1所述的天线面形测量方法，其特征在于，所述波束遮盖为旋转式波束遮盖盘组或平移式波束遮盖板；

所述旋转式波束遮盖盘组包括第一遮盖盘、第二遮盖盘和第三遮盖盘，所述第一遮盖盘、第二遮盖盘和第三遮盖盘的形状均与进入馈源的波束形状相同，直径均大于波束直径；所述第一遮盖盘挖去1/N的扇形区域供波束通过；所述第二遮盖盘挖去相邻的各1/N的2个扇形区域供波束通过；所述第三遮盖盘挖去相间的各1/N的2个扇形区域供波束通过；

所述平移式波束遮盖板由N个矩形板拼接而成，所述平移式波束遮盖板的大小能够覆盖波束；通过让每一个矩形板轮流打开，形成第一遮盖板；通过保持第一个矩形板打开的同时将剩余的矩形板轮流打开，形成第二遮盖板；通过保持第二个矩形板打开的同时将剩余的矩形板轮流打开，形成第三遮盖板；

其中，N为大于等于100的偶数。

3.根据权利要求2所述的天线面形测量方法，其特征在于，所述依次控制每一份波束轮流进入馈源，并测量和记录每一份波束的强度数据，具体包括：

将所述第一遮盖盘每次旋转1/N周直到完成一个循环，或将所述第一遮盖板每次开启1个矩形板，第1个矩形板到第N个矩形板轮流开启，得到N个强度数据。

4.根据权利要求2所述的天线面形测量方法，其特征在于，所述依次控制每相邻两份波束轮流进入馈源，并测量和记录每相邻两份波束的强度数据，具体包括：

将所述第二遮盖盘每次旋转1/N周直到完成一个循环，或将所述第二遮盖板每次开启2个矩形板，第1个矩形板常开，第2个到第N个矩形板轮流开启，得到N个强度数据。

5.根据权利要求2所述的天线面形测量方法，其特征在于，所述依次控制每相间两份波束轮流进入馈源，并测量和记录每相间两份波束的强度数据，具体包括：

将所述第三遮盖盘每次旋转1/N周直到完成一个循环，或将所述第三遮盖板每次开启2个矩形板，第2个矩形板常开，第3个到第N个矩形板轮流开启，得到N个强度数据。

6.根据权利要求1所述的天线面形测量方法，其特征在于，所述根据每一份波束的强度数据、每相邻两份波束的强度数据和每相间两份波束的强度数据代数求解不同波束区域对应的反射面面板之间的法向相对位置偏差，具体包括：

根据所述每相邻两份波束的强度数据、所述每相间两份波束的强度数据分别与所述每一份波束的强度数据之间的几何叠加关系，计算天线反射面不同区域对应的口径场相位之间的相位差的余弦；

根据所述相位差的余弦计算天线口径场相位分布；

根据所述口径场相位分布计算不同波束区域对应的反射面面板之间的法向相对位置偏差。

7.根据权利要求1所述的天线面形测量方法，其特征在于，所述根据每一份波束的强度数据、每相邻两份波束的强度数据和每相间两份波束的强度数据代数求解不同波束区域对应的反射面面板之间的法向相对位置偏差，之后还包括：

根据所述不同波束区域对应的反射面面板之间的法向相对位置偏差调整相应的面板区域的法向位置，使所有的面板区域都向第一个面板区域对齐。

8.根据权利要求1所述的天线面形测量方法，其特征在于，所述待测天线为抛物面天线。