[发明专利]一种垂直集成单元二极管芯片在审
申请号: | 201910333793.1 | 申请日: | 2019-04-24 |
公开(公告)号: | CN111864021A | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 闫春辉;蒋振宇 | 申请(专利权)人: | 深圳第三代半导体研究院 |
主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20;H01L33/24;H01L33/14;H01L33/64;H01L25/075 |
代理公司: | 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 | 代理人: | 李明 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 垂直 集成 单元 二极管 芯片 | ||
1.一种垂直集成单元二极管芯片,其特征在于,包括:
第一导电类型电极,第二导电类型电极,及位于所述第一导电类型电极之上的二极管台面结构;所述二极管台面结构包括n个二极管单元和沟槽结构,其中,n≥2;沟槽结构位于二极管单元之间,沟槽深度为L;
所述二极管台面结构还包括第一导电类型层,第二导电类型层,及位于所述第一导电类型层上的量子阱有源区,量子阱有源区厚度,第一导电类型层厚度为L1,第二导电类型层厚度为L2,量子阱有源区厚度为L3,
其中,L2+L3L≤L1+L2+L3;
所述二极管台面结构面积根据电流扩散长度确定。
2.一种如权利要求1所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管台面结构内的n个二极管单元沿沟槽底部向上的垂直方向上的水平截面面积不变或逐渐缩小。
3.一种如权利要求1所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管单元之间的沟槽横截面形状为三角形、四边形、弧形以及其它任意定义形状。
4.一种如权利要求1所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管单元之间的沟槽形状为四边形、同心圆环、十字形及其它任意曲线形状。
5.一种如权利要求1所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管单元之间的沟槽水平方向不均匀分布或均匀分布。
6.一种如权利要求5所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述不均匀分布包括等距和非等距周期性分布,或等距和非等距非周期性分布。
7.一种如权利要求1所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管台面结构内的二极管单元的侧壁与水平面具有一定夹角α。
8.一种如权利要求7所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述夹角α大于0度且小于等于90度。
9.一种如权利要求1所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管台面结构内的二极管单元的侧壁形状为梯形、四边形、曲面以及其它任意定义形状;
10.一种如权利要求1或7所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管台面结构内的二极管单元至少有一个侧壁从台面底部到顶部方向上有沟槽分布。
11.一种如权利要求1或7或10所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管台面结构内的二极管单元侧壁沟槽截面形状为三角形、四边形、弧形以及其它任意定义形状。
12.一种如权利要求1或7或10所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述二极管台面结构内的二极管单元侧壁沟槽水平方向不均匀分布或均匀分布。
13.一种如权利要求12所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述沟槽水平方向不均匀分布包括等距和非等距周期性分布,或等距和非等距非周期性分布。
14.一种如权利要求10所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于,所述沟槽宽度为0.5纳米-10微米,深度为0.5纳米-10微米。
15.一种如权利要求1所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于,包括电极线;所述电极线为二极管单元间电极连接线;所述电极连接线为线条形电极线。
16.一种如权利要求16所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于,所述电极线宽度为0.001微米~20微米,所述电极线厚度为0.001微米~10微米。
17.一种如权利要求17所述的垂直集成单元二极管芯片,其特征在于所述电极线布局方式为部分或全部设计采用非直线布局。
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