[发明专利]一种检定装置及方法

说明书

本发明公开了一种检定装置及方法，该检定装置包括控制器、与所述控制器相连接的检定设备、与所述控制器相连接的干扰信号发射组件以及检定室，所述检定室内设置有与所述检定设备相连接的待检测设备，所述干扰信号发射组件用于向所述检定室发出射频干扰信号，所述检定设备包括用于向所述待检测设备输出三相电压和三相电流的三相程控源以及用于检测待检测设备的功能损耗的功耗测试仪，所述控制器用于控制所述干扰信号发射组件以及所述功耗测试仪、并利用所述功耗测试仪的检测结果计算所述待检测设备的误差，从而通过所述控制器工作、所述检定设备等就可以对位于检定室内的待检测设备进行功能损耗检测，较为方便。

技术领域

本发明涉及采集终端的检定技术领域，尤其涉及一种检定装置及方法。

背景技术

随着电子技术的不断发展，各种电子、电气设备应用越来越广泛，在智能电网中，智能电表、专变采集终端等采集终端收到的电子干扰频率也越来越大，而且，由于大部分的智能电表、专变采集终端被赋予了很多新的功能，对其精度要求也越来越高。根据国家及行业的相关技术规范，需要对这些电子设备进行辐射抗干扰度实验，以避免在使用过程中受到电磁干扰而生成误动及较大的计量误差。

现有的电磁辐射抗干扰度检验装置只能单独对电能表或针对专变采集终端等设备进行检验和测试，检验时间长，需要使用的一起繁多，而且只能针对一种电子设备进行实验，效率较低。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明所解决的第一个技术问题是提供一种能够对不同的采集终端进行电磁辐射抗干扰度进行检定的装置。

为解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案内容具体如下：

一种检定装置，包括控制器、与所述控制器相连接的检定设备、与所述控制器相连接的干扰信号发射组件以及检定室，所述检定室内设置有与所述检定设备相连接的待检测设备，所述干扰信号发射组件用于向所述检定室发出射频干扰信号，所述检定设备包括用于向所述待检测设备输出三相电压和三相电流的三相程控源以及用于检测待检测设备的功能损耗的功耗测试仪，所述控制器用于控制所述干扰信号发射组件以及所述功耗测试仪工作、并利用所述功耗测试仪的检测结果计算所述待检测设备的误差。

进一步地，所述控制器通过第一通讯总线连接所述干扰信号发射组件和所述检定设备，所述检定设备通过第二通讯总线连接所述待检测设备。

进一步地，所述干扰信号发射组件包括依次连接的信号源、射频开关、功率放大器和天线，所述天线设置在所述检定室内，所述信号源与所述控制器相连接，并且所述信号源用于发射射频干扰信号，所述射频开关对射频干扰信号的传输进行控制，所述功率放大器用于增大射频干扰信号的频率，所述天线用于向所述检定室内发射射频干扰信号。

更进一步地，所述功耗测试仪设置有第一通讯接口，所述第一通讯接口包括用于连接所述第一通讯总线的第一端口以及用于连接所述第二通讯总线的第二端口。

更进一步地，所述三相程控源设置有第二通讯接口，所述第二通讯接口包括用于连接所述第一通讯总线的第三端口以及用于连接所述第二通讯总线的第四端口。

优选地，所述功能损耗仪包括功率计，所述功率计用于记录所述待检测设备的前向功率和反向功率、并将记录结果传输至所述控制器。

本发明还公开了一种检定方法，包括如下步骤：

S1：控制器控制三相程控源向位于检定室内的待检测设备输出的三相电压和三相电流；

S2：控制器控制干扰信号发射组件向检定室发出射频干扰信号；

S3：功耗测试仪对待检测设备的有功电能和无功电能进行检测，并将检测结果传输至控制器；

S4：控制器将接收的检测数据与标准数据进行比对，并根据比对结果计算所述待检测设备的误差。