[发明专利]用于不良分析的取片系统及取片方法

权利要求书

1.一种采用 用于不良分析的取片系统的用于不良分析的取片方法，其特征在于，所述用于不良分析的取片系统包括报表系统和与所述报表系统之间数据串联的作业系统；所述报表系统对产线上的面板信息进行收集并显示，所述作业系统对产线上的面板的流向进行指定作业；

所述报表系统内置有逻辑开发模块，所述逻辑开发模块用于根据接收到的取片逻辑选择出需解析面板，并将需解析面板的数据信息传递给作业系统，所述作业系统对需解析面板添加流程代码并对需解析面板执行跳站操作，所述作业系统将需解析面板转送到拔片站点；

所述采用 用于不良分析的取片系统的用于不良分析的取片方法包括：向所述报表系统输入对于不良面板的取片逻辑，所述报表系统的逻辑开发模块根据取片逻辑选择出需解析面板，并将需解析面板的数据信息传递给作业系统，所述作业系统对需解析面板添加流程代码并对需解析面板执行跳站操作，将需解析面板转送到拔片站点，从拔片站点取出需解析面板以进行不良分析；

在产线上，面板由母板制得，每一母板上排列有对应形成多个面板的多个模位；

所述报表系统在最小时间单位内计算出由异常代码所表示的面板不良类型的发生量及发生量排名，根据母板不同模位上的不良面板数计算出高发模位，根据不同产线上的不良面板数计算出高发线别；

所述最小时间单位为0.5h-1h；

所述高发模位的判定条件为：假设一模位满足如下公式，单模位对应面板报废数/总报废数*母板模位排版数≥1.5，则该模位为高发模位；

所述高发线别的判定条件为；假设一产线满足如下公式，（单产线报废数/总报废数）*（单产线产出数/总产出数）≥0.25%，则该线别为高发产线。

2.如权利要求1所述的用于不良分析的取片方法，其特征在于，向所述报表系统输入对于不良面板的取片逻辑包括：假设存在高发模位和高发线别，则优先从高发模位按不良面板的产出顺序选择需解析面板，再从高发线别选择需解析面板；假设不存在高发模位，则随机对不同模位选择需解析面板。