[发明专利]一种λ-DNA中和后剩余电量的测量装置及其测量方法

说明书

本发明涉及一种λ‑DNA中和后剩余电量的测量装置及其测量方法。该测量装置包括玻璃基座，所述玻璃基座的一侧设置有用于存储样品溶液的开槽，所述玻璃基座对应开槽的一侧设置有前挡片，玻璃基座对应开槽处设置有与开槽贯通连接的玻璃微管，开槽两端对称设置有自开槽内向外延伸的铂丝导线，开槽的一侧侧壁上附着有抗地高辛。本发明通过将含有λ‑DNA的溶液通过测量装置的玻璃微管注入测量装置的开槽内，使得溶液与侧壁上的抗地高辛反应，再通过外置电压装置对测量装置两侧铂丝导线施加电压、通过磁镊装置对开槽内的样品溶液操作，实现对λ‑DNA中和后剩余电量的测量，测量方法简单易行、且测量剩余电量结果精度高。

技术领域

本发明涉及一种λ-DNA中和后剩余电量的测量装置及其测量方法。

背景技术

目前已经有各种技术方法应用于DNA与核酸结合分子之间相互作用的研究。传统方法有光谱法、X-射线晶体衍射、凝胶电泳法、DNA足迹分析、流体力学技术和电化学方法等。这些集群测量的方法，在灵敏度、定量检测等方面都有一定的局限性。用单分子技术研究多价离子与DNA作用，能够测量传统集群测量所无法实现的生物分子的个性行为，对生物分子行为(包括构象变化、相互作用、相互识别等)进行实时，动态监测以及在此基础上的操纵、调控等。

现有技术中，测量λ-DNA的带电量是通过电泳法进行测量，将λ-DNA放入溶液中，在溶液两端加电压，让λ-DNA在溶液中移动，观察测量λ-DNA在溶液中移动的速度，以此来计算分析出λ-DNA上的带电量，但此种方法存在测量上的不便与测量结果精度不高的问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的问题，提供一种λ-DNA中和后剩余电量的测量装置及其测量方法。

为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：

一种λ-DNA中和后剩余电量的测量装置，包括玻璃基座，所述玻璃基座的一侧设置有用于存储样品溶液的开槽，所述玻璃基座对应开槽的一侧设置有前挡片，所述玻璃基座包括第一盖玻片、第二盖玻片及载玻片，所述载玻片设置于第一盖玻片与第二盖玻片之间并与第一盖玻片及第二盖玻片连接，所述开槽由所述第一盖玻片的下底面、第二盖玻片的上顶面、载玻片对应开槽一侧的侧壁及前挡片对应开槽一侧的侧壁围绕而成，所述载玻片对应开槽一侧的侧壁上附着有抗地高辛，所述第一盖玻片对应开槽处对称设置有与开槽贯通的玻璃微管，所述开槽的两端对称设置有自开槽内向外延伸的铂丝导线，所述开槽的两端由玻璃胶进行密封。

通过采用上述技术方案，玻璃基座上设置有用于储存样品溶液的开槽，开槽由第一盖玻片的下底面、第二盖玻片的上顶面、载玻片对应开槽的一侧侧壁及前挡片对应开槽的一侧侧壁围绕而成，开槽的两端由具有密封性的玻璃胶密封，使得开槽密封，第一盖玻片对应开槽处对称设置有与开槽连接的玻璃微管，玻璃微管与开槽贯通连接，含有λ-DNA的溶液或药品可通过玻璃微管注射进开槽内并与开槽对应载玻片一侧的侧壁上的抗地高辛进行反应，通过外置电压装置对伸入开槽内的铂丝导线导电，对开槽内的样品溶液施加电压，磁力装置设置于前挡片一侧对样品溶液进行操作，使得样品溶液内的λ-DNA受电场力及磁场力作用发生变化，从而测得λ-DNA中和后携带的剩余电荷量。

一种λ-DNA中和后剩余电量的测量方法，

步骤(1)，在λ-DNA两端分别修饰地高辛与亲和素；

步骤(2)，通过测量装置的玻璃微管将一定浓度的抗地高辛冲入封闭好的开槽内，将测量装置竖直放置静置5-6个小时，使抗地高辛附着到开槽对应载玻片一侧的侧壁上；

步骤(3)，将修饰好的λ-DNA与带有链霉亲和素的磁球混合冲入开槽中，静置30分钟，形成磁球-DNA-侧壁结构；

步骤(4)，将测量装置放置在一个倒置显微镜的样品台上，通过磁镊装置对测量装置内的磁球进行操作，同时通过两端的铂丝导线对样品溶液施加电压，并通过录像记录磁球的偏转；