[发明专利]一种测试方法及相关产品

说明书

本申请实施例公开了一种测试方法及相关产品，处理器通过不同的设备信息配置不同的测试环境，以实现对云端设备运行参数的配置。通过本申请，可以实现在同一个人工智能处理器上模拟多种目标芯片的测试环境。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种测试方法及相关产品。

背景技术

传统技术中，当人工智能芯片流片成功后，算法应用开发者才能在对应版本的人工智能处理器(硬件实体)上进行开发和测试。

从上述描述可以知道，传统技术中，同一型号的人工智能处理器只能在特定的运行环境下实现特定处理任务的调试以及测试过程，该人工智能处理器的特定运行环境由其硬件架构信息确定。那么，基于同一个人工智能处理器如何实现多种类型的测试环境的模拟，是本领域技术人员的研究热点问题。

发明内容

本申请实施例提供一种测试方法，可以在一个服务器板卡上实现多种不同类型的测试环境的模拟，并基于该确定好的测试环境实现人工智能芯片的调试以及测试过程。

第一方面，本申请实施例提供了一种测试方法，该方法包括：

获取目标芯片的第一设备信息；

根据所述目标芯片的第一设备信息确定第一测试环境；

发送所述第一测试环境至云端设备，以配置所述云端设备中人工智能处理器的当前运行环境参数，使所述人工智能处理器的当前运行环境参数与所述目标芯片的第一设备信息一致。

实施本申请实施例，处理器通过不同的设备信息配置不同的测试环境，并将该测试环境发送给云端设备，以使云端设备根据获取到的测试环境设置云端设备中的人工智能处理器的当前运行环境参数，并基于该确定好的测试环境实现目标芯片的调试以及测试过程。

在其中一个可能的实现方式中，所述第一设备信息包括所述目标芯片的芯片运行环境参数；所述芯片运行环境参数包括所述目标芯片的运行主频率以及访存带宽。

在其中一个可能的实现方式中，所述的根据所述目标芯片的第一设备信息确定第一测试环境，发送所述第一测试环境至云端设备，还包括：

根据所述芯片运行环境参数，确定至少一个第一寄存器的值以及至少一个第二寄存器的值；

发送所述至少一个第一寄存器的值和所述至少一个第二寄存器的值至所述云端设备。

在其中一个可能的实现方式中，所述第一设备信息还包括所述目标芯片的硬件架构信息；所述的根据所述目标芯片的第一设备信息确定第一测试环境，发送所述第一测试环境至云端设备，还包括：

将所述目标芯片的硬件架构信息传送至所述云端设备的人工智能处理器。

在其中一个可能的实现方式中，所述方法还包括：

接收所述人工智能处理器在所述当前运行环境参数下处理预设任务时，获得的第一测试结果；其中，所述第一测试结果用于指示所述人工智能处理器处理所述预设任务的处理性能；

若所述第一测试结果不符合预设条件，则重新获取所述目标芯片的第一设备信息。

在其中一个可能的实现方式中，所述第一测试结果包括所述目标芯片处理所述预设任务的运行时间、所述目标芯片处理所述预设任务的功耗中的至少一种。

在其中一个可能的实现方式中，所述第一测试环境包括所述目标芯片的主频率、所述目标芯片的访存带宽和所述目标芯片的计算能力；

所述目标芯片的运行主频率小于或等于所述人工智能处理器的实际主频率；

所述目标芯片的访存带宽小于或等于所述人工智能处理器的实际访存带宽；