[发明专利]用于感兴趣区域的断层摄影的扫描轨迹在审
| 申请号: | 201910315800.5 | 申请日: | 2019-04-18 |
| 公开(公告)号: | CN110389139A | 公开(公告)日: | 2019-10-29 |
| 发明(设计)人: | G.R.梅尔斯;S.J.莱瑟姆;A.P.谢泼德;A.M.金斯顿;O.德尔加多-费德里奇斯 | 申请(专利权)人: | FEI公司 |
| 主分类号: | G01N23/046 | 分类号: | G01N23/046 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张凌苗;申屠伟进 |
| 地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 焦物距 感兴趣区域 视角 断层摄影 扫描轨迹 半径确定 样本 关联 小圆柱体 外接圆 扫描 测量 响应 | ||
1.一种方法,包括:
基于样本的外接圆半径确定第一焦物距,所述样本包括感兴趣区域;
基于包含所述感兴趣区域的最小圆柱体的半径确定第二焦物距;
响应于所述第一焦物距从多个可能的视角确定多个视角,其中所述多个视角中的每个视角均具有从所述感兴趣区域测量的相关联的焦物距,并且其中所述多个视角中的每一个的所述相关联的焦物距均小于所述第一焦物距且大于所述第二焦物距;以及
使用至少所述多个视角扫描所述感兴趣区域。
2.根据权利要求1所述的方法,其中响应于所述第一焦物距从多个可能的视角确定多个视角包括:基于它们的相关联的焦物距的均方小于所述第一个焦物距来选择所述多个视角。
3.根据权利要求2所述的方法,其中它们的相关联的焦物距的均方通过在所述多个视角中的每个视角处扫描花费的时间来加权。
4.根据权利要求1所述的方法,其还包括从基于具有相关联的焦物距的所述多个可能的视角的子集扫描所述感兴趣区域中排除所述多个可能的视角的子集,所述相关联的焦物距相对于所述第二个焦物距被最小化。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个视角在选自锯齿形轨迹、螺旋形轨迹的子集和格子型空间填充轨迹中的一个所选择的扫描轨迹中实现。
6.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个视角在是圆弧的扫描轨迹中实现。
7.根据权利要求1,其中所述多个视角在包括视角的不连续轨迹的扫描轨迹中实现。
8.根据权利要求1所述的方法,其还包括:
基于所述样本内的所述感兴趣区域的位置选择所述多个视角,其中在所述多个视角与所述样本内的所述感兴趣区域的位置之间的关系允许最小化所述第一焦物距。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个视角被选择为相对于所述样本内所述感兴趣区域的位置最小化它们的相关联的焦物距。
10.根据权利要求1所述的方法,其中使用至少所述多个视角扫描所述感兴趣区域还包括来自所述多个可能的视角的一个或多个视角,所述多个可能的视角所具有的相关联的焦物距大于或等于所述第一焦物距。
11.一种用于执行计算机断层扫描的系统,所述系统包括:
平台,所述平台用于保持和移动样本;
源,所述源用于向所述样本提供x射线束;
检测器,所述检测器用于在穿过所述样本后检测至少一部分所述x射线束;以及
控制器,所述控制器至少联结到所述平台,用于控制所述平台的移动,所述控制器联结到或包括可执行代码,当由所述控制器执行时,所述可执行代码使所述系统:
基于样本的外接圆半径确定第一焦物距,所述样本包括感兴趣的区域;
基于包含所述感兴趣区域的最小圆柱体的半径确定第二焦物离;
响应于所述第一焦物距从多个可能的视角确定多个视角,其中所述多个视角中的每个视角均具有从所述感兴趣区域测量的相关联的焦物距,并且其中所述多个视角中的每一个的所述相关联的焦物距均小于所述第一焦物距且大于所述第二焦物距;以及
使用至少所述多个视角来扫描所述感兴趣区域。
12.根据权利要求11所述的系统,其中使所述控制器响应于所述第一焦物距从多个可能的视角确定多个视角的所述可执行代码还包括当由所述控制器执行时导致所述系统执行以下的可执行代码:
基于它们的相关联的焦物距的均方小于所述第一焦物距来选择所述多个视角。
13.根据权利要求12所述的方法,其中它们的相关联的焦物距的所述均方通过在所述多个视角中的每个视角处扫描所花费的时间来加权。
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