[发明专利]探针检测装置

说明书

本发明涉及一种探针检测装置，该探针检测装置包括第一治具、探针模组以及第二治具，第一治具包括本体，本体包括相对的第一表面及第二表面，第一表面与第二表面沿第一方向排布；探针模组设于第二表面，且探针模组的探针沿第一方向延伸，探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，第一探针模组与第二探针模组在第二表面上沿第二方向间隔排布，且第二探针模组能够在第二表面上沿第二方向滑动，以调节第一探针模组与第二探针模组之间的间距；第二治具与本体可拆卸连接，且第二治具位于本体在第二方向的一端，并靠近第二探针模组，用于防止第二探针模组沿第二方向滑出本体。本发明探针检测装置能够通对不同型号尺寸的产品进行检测。

技术领域

本发明涉及探针检测技术领域，特别是涉及一种探针检测装置。

背景技术

相关技术中，探针检测装置包括模块和探针，探针装设在模块内，探针的上针头用于接触被测物，探针的下针头用于连接电路板，以导出检测信号。然而，由于探针在模块内的位置是固定不动的，使得探针不能对不同型号尺寸的产品进行检测，若需要对不同型号的产品进行检测，就需要重新设计一组新的探针检测装置，以使探针在模块内的排布对应待测产品的尺寸要求，这将严重影响了待测产品的检测效率，而且浪费了大量资源。

发明内容

基于此，有必要针对相关技术中的探针检测装置检测效率低下的问题，提供一种探针检测装置。

一种探针检测装置，包括：

第一治具，包括本体，所述本体包括相对的第一表面及第二表面，所述第一表面与所述第二表面沿第一方向排布；

探针模组，设于所述第二表面上，且所述探针模组的探针沿所述第一方向延伸，所述探针模组包括第一探针模组及第二探针模组，所述第一探针模组与所述第二探针模组在所述第二表面上沿第二方向间隔排布，且所述第二探针模组能够在所述第二表面上沿所述第二方向滑动，以调节所述第一探针模组与所述第二探针模组之间的间距；以及

第二治具，与所述本体可拆卸连接，且所述第二治具位于所述本体在所述第二方向的一端，并靠近所述第二探针模组，用于防止所述第二探针模组沿所述第二方向滑出所述本体。

在上述探针检测装置中，当需要对不同型号尺寸的产品进行检测时，由于第二探针模组能够在第二表面上沿第二方向滑动，从而第一探针模组与第二探针模组之间的距离可以进行调节，以满足不同型号待测产品的尺寸要求，提高了探针检测装置的利用率以及待测产品的检测效率。另外，由于第二治具位于本体在第二方向的一端，并靠近第二探针模组，从而第二治具可以用于防止第二探针模组沿第二方向滑出本体。

在其中一个实施例中，所述第一治具还包括设于所述第二表面上的第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨与所述第二滑轨在所述第二表面上沿第三方向间隔排布，所述第二探针模组的两端分别与所述第一滑轨及所述第二滑轨滑动连接，其中，所述第一方向、所述第二方向及所述第三方向两两垂直。

在其中一个实施例中，所述第一滑轨及所述第二滑轨分别设有第一限位部，所述第二治具设置有第二限位部，所述第一滑轨及所述第二滑轨的所述第一限位部分别与所述第二限位部限位配合。

在其中一个实施例中，所述第一滑轨与所述第二滑轨靠近所述第二治具的一端延伸至所述本体外，并形成所述第一限位部，所述第二限位部为开设于所述第二治具上的限位槽。

在其中一个实施例中，所述探针检测装置包括锁紧件，所述第二探针模组的两端分别开设有第一锁紧孔，所述第一滑轨和所述第二滑轨沿所述第二方向开设有多个第二锁紧孔，所述锁紧件顺次穿设于所述第一锁紧孔和所述第二锁紧孔，以将所述第二探针模组固定于所述第一滑轨和所述第二滑轨。

在其中一个实施例中，所述第二治具为U形结构，所述本体在所述第二方向上靠近所述第二探针模组的一端容置于所述U形结构，所述U形结构的相对的两侧板沿所述第三方向排布，所述本体在所述第二方向上的一侧与所述U形结构的槽底抵接。