[发明专利]自动遥感探测高层大气温度和体发射率的气辉成像干涉仪有效
| 申请号： | 201910303380.9 | 申请日： | 2019-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN110095149B | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 唐远河;董晨;孙鹏;家敏;郭栋森;乔良 | 申请（专利权）人： | 西安理工大学 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 罗笛 |
| 地址： | 710048 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动 遥感 探测 高层 大气 温度 发射 成像 干涉仪 | ||
【权利要求书】：
1.自动遥感探测高层大气温度和体发射率的气辉成像干涉仪，其特征在于，包括管状镜筒(9)，镜筒(9)内壁从上到下依次设置有入射光阑(2)、凸透镜(3)、滤光片(4)和CCD探测器(6)的成像透镜(5)，所述CCD探测器(6)通过数据线依次连接树莓派(7)的I\O接口和计算机(8)；
所述滤光片(4)为窄带FPI滤光片；
所述树莓派(7)具体位置树莓派3代B+型；
所述CCD探测器(6)的成像透镜(5)透过谱线的透过率τf(λ，θ)应满足以下条件：
公式(1)中，λ0是滤光片(4)的中心波长，DFWAM是滤光片(4)的半高宽，ne是滤光片(4)的有效折射率，τc是滤光片(4)的峰值透过率，λ是滤光片(4)的透过谱线波长，θ为透过谱线的探测视场角；
所述滤光片(4)还应满足以下条件：
公式(2)中，λ是滤光片(4)的透过谱线波长，θ为透过谱线的探测视场角。
2.根据权利要求1所述的自动遥感探测高层大气温度和体发射率的气辉成像干涉仪，其特征在于，所述CCD探测器(6)具体为APogee F6 CDD探测器。
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