[发明专利]精密检测装置、刀具辅件及其制造方法在审
申请号: | 201910293558.6 | 申请日: | 2019-04-12 |
公开(公告)号: | CN110108183A | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 董伟吉 | 申请(专利权)人: | 赫克测控技术(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01B5/012 | 分类号: | G01B5/012;G01B5/016 |
代理公司: | 苏州智慧罗盘知识产权代理事务所(普通合伙) 32349 | 代理人: | 王元博 |
地址: | 215131 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 精密检测装置 复位 复位组件 测杆 待测对象 微间距 非接触状态 反馈组件 方式检测 磁力 复位卡 触感 触碰 辅件 刀具 制造 反馈 申请 | ||
1.一种精密检测装置,其特征在于,包括:
测杆,用于通过触碰的方式检测与待测对象之间的微间距;
触感反馈组件,用于将所述微间距信息进行反馈;
复位组件,用于当所述测杆与待测对象之间为非接触状态时,将所述测杆进行复位;
其中,所述复位组件包括至少两个磁体。
2.根据权利要求1所述的精密检测装置,其特征在于,所述触感反馈组件包括导电球体和与所述导电球体配合的导电杆;
所述导电杆与所述测杆联动;
所述导电杆分布于一对所述导电球体之间。
3.根据权利要求2所述的精密检测装置,其特征在于,所述触感反馈组件包括套接所述测杆的安装部;
所述安装部插置所述导电杆。
4.根据权利要求3所述的精密检测装置,其特征在于,所述精密检测装置还包括座体;
所述座体与至少两个磁体中的一个磁体联动;
所述测杆与至少两个磁体中的另一个磁体联动。
5.一种精密检测装置的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
至少将安装部对应导电杆的部分进行非导电处理;
在液氮环境下将所述导电杆插入所述安装部;
将所述测杆安装于所述安装部;
将所述第一磁体装入所述安装部;
将导电球体安装入封闭壳;
将所述与第一磁体产生磁力作用的第二磁体安装入封闭壳;
将所述安装部植入所述封闭壳内的、所述第二磁体和所述导电球体之间的位置;
封闭所述封闭壳。
6.一种精密检测装置的制造方法,其特征在于,所述安装部为铝合金;
所述非导电处理为对所述安装部进行氧化处理。
7.一种刀具辅件的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
至少将安装部对应导电杆的部分进行非导电处理;
在液氮环境下将所述导电杆插入所述安装部;
将所述测杆安装于所述安装部;
将所述第一磁体装入所述安装部;
将导电球体安装入封闭壳;
将所述与第一磁体产生磁力作用的第二磁体安装入封闭壳;
将所述安装部植入所述封闭壳内的、所述第二磁体和所述导电球体之间的位置;
封闭所述封闭壳;
将所述封闭壳与柄体进行固定。
8.一种精密检测装置,其特征在于,包括:
外壳;
设置于外壳内的、可相对所述外壳偏转的动芯;
与所述动芯联动的、用于通过触碰的方式检测与待测对象之间的微间距的测杆;
其中,所述动芯相对所述外壳具有平衡态和偏转态;
在平衡态下,所述测杆与待测对象之间为非接触状态;
在偏转态下,所述测杆与待测对象之间为接触状态;
当所述测杆与待测对象脱离接触时,所述动芯在磁力作用下复位到相对所述外壳的平衡态;
所述外壳设置有第一磁体;
所述动芯设置有相对所述第一磁体的第二磁体;
所述精密检测装置还包括导电球体;
所述外壳设置容纳槽,用以收纳所述导电球体;
所述动芯包括与所述导电球体配合的导电杆;
所述导电杆与所述测杆联动;
所述导电杆分布于一对所述导电球体之间。
9.一种精密检测装置的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
至少对动芯对应导电杆的部分进行非导电处理;
在超低温环境下,将所述导电杆插入所述动芯;
将第二磁体装入所述动芯;
将测杆安装至所述动芯;
将导电球体和第一磁体装入外壳;
将所述测杆从所述外壳探出后,封闭所述动芯在所述外壳内。
10.一种精密检测装置的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
至少对动芯对应导电杆的部分进行非导电处理;
在超低温环境下,将所述导电杆插入所述动芯;
将第二磁体装入所述动芯;
将导电球体和第一磁体装入外壳;
封闭所述动芯在所述外壳内;
将所述测杆从所述外壳探入并固定至所述动芯。
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