[发明专利]物体表面缺陷的检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种物体表面缺陷的检测方法，其特征在于，包括：

生成与检测对象的标注框位置的分布规律对应的一系列锚框，所述一系列锚框中心点的分布构成所述检测对象对应的锚框分布图形；

根据所述锚框分布图形对应的一系列锚框对检测模型进行训练，得到训练后的检测模型；

利用所述训练后的检测模型对所述检测对象的表面缺陷进行检测，得到表面缺陷标注结果；

其中，所述生成与检测对象的标注框位置的分布规律对应的一系列锚框，所述一系列锚框中心点的分布构成所述检测对象对应的锚框分布图形，包括：

获取所述检测对象对应的目标图像；

对所述目标图像进行标注，得到所述目标物体对应的标注数据集；

对所述标注数据集中每个标注框中心点的坐标进行统计，得到统计结果；

根据所述统计结果，采用塌缩算子将当前的正方形锚框分布图形映射为与所述检测对象的标注框位置的分布规律对应的一系列锚框，所述一系列锚框中心点的分布构成所述检测对象对应的锚框分布图形；

其中，所述塌缩算子采用第一计算公式：

其中，(x,y)为变换后的坐标；(x₀,y₀)为变换前的坐标；(a,b)为中心坐标；k为塌缩因子。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述塌缩因子采用第二计算公式：

3.一种物体表面缺陷的检测装置，其特征在于，包括：

生成模块，用于生成与检测对象的标注框位置的分布规律对应的一系列锚框，所述一系列锚框中心点的分布构成所述检测对象对应的锚框分布图形；

训练模块，用于根据所述锚框分布图形对应的一系列锚框对检测模型进行训练，得到训练后的检测模型；

检测模块，用于利用所述训练后的检测模型对所述检测对象的表面缺陷进行检测，得到表面缺陷生成框；

其中，所述生成模块，包括：

获取单元，用于获取所述检测对象对应的目标图像；

标注单元，用于对所述目标图像进行标注，得到所述目标物体对应的标注数据集；

统计单元，用于对所述标注数据集中每个标注框中心点的坐标进行统计，得到统计结果；

映射单元，用于根据所述统计结果，采用塌缩算子将当前的正方形锚框分布图形映射为与所述检测对象的标注框位置的分布规律对应的一系列锚框，所述一系列锚框中心点的分布构成所述检测对象对应的锚框分布图形；

其中，所述塌缩算子采用第一计算公式：

其中，(x,y)为变换后的坐标；(x₀,y₀)为变换前的坐标；(a,b)为中心坐标；k为塌缩因子。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述塌缩因子采用第二计算公式：

5.一种电子设备，包括：存储器和处理器；

所述存储器，用于存储计算机程序；

其中，所述处理器执行所述存储器中的计算机程序，以实现如权利要求1或2所述的方法。

6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现如权利要求1或2所述的方法。