[发明专利]抗噪声的间歇操作的增量位置传感器有效
申请号: | 201910287876.1 | 申请日: | 2019-04-10 |
公开(公告)号: | CN110361036B | 公开(公告)日: | 2023-02-21 |
发明(设计)人: | 汉斯·乌尔里希·迈尔 | 申请(专利权)人: | 贺米爱有限公司 |
主分类号: | G01D5/244 | 分类号: | G01D5/244;G01D5/20;G01D5/245 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周祺 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 噪声 间歇 操作 增量 位置 传感器 | ||
1.一种在间歇测量的增量位置传感器电路中测量增量位置的方法,所述方法包括:
确定第一排期测量信号,
确定在所述间歇测量的增量位置传感器电路的至少一个电路节点处对所述第一排期测量信号的噪声影响,以及
如果所确定的噪声影响超过阈值,则提出校正测量信号并用所述校正测量信号替换所述第一排期测量信号,使得所述校正测量信号成为所述第一排期测量信号,
其中所有校正测量信号替换排期测量信号发生在下一排期测量信号之前。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,在用所述校正测量信号替换所述第一排期测量信号之前:
确定在所述至少一个电路节点处对所述校正测量信号的噪声影响,以及
如果所确定的对所述校正测量信号的噪声影响超过所述阈值,则提出后续校正测量信号并确定对所述后续校正测量信号的噪声影响,
如果所确定的对所述校正测量信号的噪声影响超过所述阈值,则重复进行提出后续校正测量信号的步骤和确定对所述后续校正测量信号的噪声影响的步骤,直到(i)所确定的噪声影响低于所述阈值,或(ii)重复步骤的次数超过第二阈值,以及
用所述后续校正测量信号中最新的后续校正测量信号来替换所述第一排期测量信号,使得所述后续校正测量信号中最新的后续校正测量信号成为所述第一排期测量信号。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,如果任何在前步骤的所确定的噪声影响都低于所述阈值,则确定第二排期测量信号。
4.根据权利要求3所述的方法,其中所述阈值是第一阈值,并且所述方法还包括:
根据第一排期测量信号和第二排期测量信号来确定位置的增量变化,以及
如果所述位置的增量变化超过第二阈值,则生成误差信号。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述间歇测量的增量位置传感器电路的所述至少一个电路节点位于所述间歇测量的增量位置传感器电路的输入放大器处。
6.一种间歇测量的增量位置传感器电路,包括,
用于检测测量信号的感测绕组,以及
噪声消除电路,与所述感测绕组连接并且被配置为根据权利要求1至5中任一项所述的方法来测量增量位置。
7.一种间歇测量的增量位置传感器电路,包括:
至少一个输入放大器,以及
噪声消除装置,所述噪声消除装置被配置为在如下测量信号之后提出校正测量信号,其中在所述测量信号中对位于所述至少一个输入放大器中的至少一个电路节点的噪声影响超过阈值,所述校正测量信号替换所述校正测量信号之前的所述测量信号,
其中所述至少一个输入放大器是差分放大器,并且
其中所述至少一个电路节点的电压与所述差分放大器的共模输入电压相关。
8.根据权利要求7所述的间歇测量的增量位置传感器电路,其中,在所有校正测量信号中对所述至少一个电路节点的噪声影响都超过阈值的情况下,所述噪声消除装置在已经达到指定次数的测量信号之后停止提出校正测量信号。
9.根据权利要求7或8所述的间歇测量的增量位置传感器电路,其中,所有校正测量信号替换排期测量信号发生在下一排期测量信号之前。
10.根据权利要求7或8所述的间歇测量的增量位置传感器电路,还包括误差检测装置,用于在检测到指示突然的意外位置变化的测量信号序列时产生误差标记。
11.根据权利要求10所述的间歇测量的增量位置传感器电路,其中,产生的误差标记从所述间歇测量的增量位置传感器电路输出误差信号。
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