[发明专利]显示装置在审

专利信息
申请号: 201910284218.7 申请日: 2019-04-10
公开(公告)号: CN110676245A 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 李元世;郭源奎;成承祐;印闰京 申请(专利权)人: 三星显示有限公司
主分类号: H01L23/60 分类号: H01L23/60;H01L27/32
代理公司: 11286 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 张逍遥;薛义丹
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 检查端子 半导体电阻器 端子开口 显示区域 绝缘膜 平坦化层 外围区域 显示装置 布线 检查信号 接触孔 叠置 基底 检查 传输 暴露 覆盖
【权利要求书】:

1.一种显示装置,所述显示装置包括:

基底,包括显示区域和外围区域,其中,所述显示区域包括显示图像的多个像素,并且所述外围区域设置在所述显示区域外部;

检查端子,设置在所述外围区域中,并且被构造为将检查信号传输到所述显示区域;

检查布线,将所述显示区域连接到所述检查端子;

半导体电阻器,连接到所述检查端子和所述检查布线中的每者;

绝缘膜;以及

平坦化层,包括端子开口,其中,所述平坦化层覆盖所述检查端子的至少一个端部,并且所述端子开口使所述检查端子的一部分暴露,

其中,所述半导体电阻器设置在所述检查端子之下,所述绝缘膜设置在所述半导体电阻器与所述检查端子之间,并且所述半导体电阻器通过限定在所述绝缘膜中的第一接触孔与所述检查端子接触,

其中,所述半导体电阻器的一部分与所述端子开口叠置。

2.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述半导体电阻器的宽度等于或大于所述检查布线的宽度。

3.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述第一接触孔设置在所述端子开口内部。

4.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述半导体电阻器的一个端部与所述端子开口叠置。

5.根据权利要求1所述的显示装置,所述显示装置还包括:

阻挡壁,由所述平坦化层形成;以及

附加检查端子,

其中,所述阻挡壁设置在所述检查端子与所述附加检查端子之间。

6.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述半导体电阻器包括多晶硅和氧化物半导体中的至少一种。

7.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述检查布线包括第一连接布线和第二连接布线,

其中,所述第一连接布线和所述检查端子设置在同一层上,并且所述第一连接布线通过限定在所述绝缘膜中的第二接触孔与所述半导体电阻器接触,

其中,所述第二连接布线与所述第一连接布线设置在不同的层上。

8.根据权利要求7所述的显示装置,所述显示装置还包括:

薄膜晶体管,设置在所述显示区域中,并且包括半导体层、栅电极、源电极和漏电极,

其中,所述半导体电阻器和所述半导体层设置在同一层上,并且所述第二连接布线和所述栅电极设置在同一层上。

9.根据权利要求7所述的显示装置,所述显示装置还包括:

薄膜晶体管,设置在所述显示区域中,并且包括半导体层、栅电极、源电极和漏电极;以及

存储电容器,与所述薄膜晶体管叠置,并且包括第一电极和第二电极,

其中,所述第二连接布线和所述第二电极设置在同一层上。

10.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述检查端子的除了所述至少一个端部之外的另一端部未被所述平坦化层覆盖。

11.根据权利要求1所述的显示装置,所述显示装置还包括:

上平坦化层,设置在所述平坦化层上;以及

附加布线,设置在所述上平坦化层与所述平坦化层之间。

12.根据权利要求11所述的显示装置,其中,所述上平坦化层在所述外围区域中包括与所述端子开口对应的附加端子开口。

13.根据权利要求1所述的显示装置,所述显示装置还包括:

有机发光器件,设置在所述显示区域中,并且包括像素电极、包含有机发光层的中间层和对电极。

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