[发明专利]图像畸变纠正方法、图像的还原方法以及对位方法有效

专利信息
申请号: 201910278570.X 申请日: 2019-04-09
公开(公告)号: CN110020997B 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 江浩 申请(专利权)人: 苏州乐佰图信息技术有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/80
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 代理人: 陈娟
地址: 215000 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 图像 畸变 纠正 方法 还原 以及 对位
【权利要求书】:

1.一种图像畸变纠正方法,其包括由面阵相机和光源组成的成像装置以及图像处理软件,其特征在于,通过以下步骤实现对待测物体表面所成图像的畸变纠正,

步骤一,在待测物体的表面设置有由若干个点位按照横向间隔一致以及竖向间隔一致排列获取的点阵图案;

步骤二,面阵相机对待测物体拍照获取畸变点阵图案图像,使得所成图像能够清晰显示出设置于待测物体表面的点阵图案;

步骤三,截取步骤二所获取的畸变点阵图案图像的部分区域图样;

步骤四,调整部分区域图样的像素位置获取畸变纠正后图样,调整方法为使得畸变纠正后图样上每个点位图样的像素位置之间横向间隔一致以及竖向间隔一致。

2.根据权利要求1所述的一种图像畸变纠正方法,其特征在于,所述的待测物体为柱体或者罐体。

3.一种图像的还原方法,其特征在于,通过以下步骤对待测物体的表面图案图像进行还原,

步骤H1,取标准待测物体,在所述的标准待测物体表面上设置有由若干个点位按照横向间隔一致以及竖向间隔一致排列获取点阵图案;

步骤H2,面阵相机对标准待测物体拍照获取畸变点阵图案图像,使得所成图像能够清晰显示出设置于标准待测物体表面的点阵图案;

步骤H3,截取步骤H2所获取的畸变点阵图案图像的部分区域图样;

步骤H4,调整部分区域图样的像素位置获取畸变纠正后图样,调整方法为使得畸变纠正后图样上每个点位图样的像素位置之间横向间隔一致以及竖向间隔一致,并获取纠正参数;

步骤H5,引入待测物体,多次拍照成像获取待测物体表面图案图像并依据纠正参数还原为图案平面图像。

4.一种对位方法,其特征在于,通过以下步骤对位,

步骤N1,引入模板盖体,并拍摄盖体图像,选取模板盖体图像上的某一图样特征固定为盖体对位特征;

步骤N2,引入模板罐体,在模板罐体表面设置有由若干个点位按照横向间隔一致以及竖向间隔一致排列获取的点阵图案,而后面阵相机对模板罐体拍照获取畸变点阵图案图像,使得所成图像能够清晰显示出设置于模板罐体表面的点阵图案,截取所获取的畸变点阵图案图像的部分区域图样,而后调整部分区域图样的像素位置获取畸变纠正后图样,调整方法为使得畸变纠正后图样上每个点位图样的像素位置之间横向间隔一致以及竖向间隔一致,并获取纠正参数;

步骤N3,引入图案罐体,多次拍照成像获取图案罐体表面图案图像并依据纠正参数还原为图案平面图像,选取图案罐体上的某一特征记录为罐体对位特征;

步骤N4,引入待盖合的盖体,拍照获取待盖合的盖体的图像并识别待盖合的盖体图像上的盖体对位特征,以及所述的待盖合的盖体对位特征在待盖合的盖体的图像上的位置,获取参数一,所述的参数一是指依据模板盖体图像中盖体对位特征在模板盖体图像中的位置为盖体基准,测算出待盖合的盖体的盖体对位特征在待盖合的盖体的图像上的位置相对于盖体基准偏离的转动角度;引入待盖合的罐体,拍照成像、畸变纠正、还原图像,并识别出待盖合的罐体图像上的罐体对位特征,以及所述的待盖合的罐体图像上的罐体对位特征在所述的待盖合的罐体图像上的位置,获取参数二,所述的参数二是指,依据模板罐体图像中罐体对位特征在模板罐体图像中的位置为罐体基准,测算出待盖合的罐体的罐体对位特征在待盖合的罐体的图像上的位置相对于罐体基准偏离的转动角度;依据参数一以及参数二,调整待盖合的盖体与待盖合的罐体之间的姿态,使得待盖合的盖体与待盖合的罐体满足设定的相对位置关系。

5.根据权利要求4所 述的一种对位方法,其特征在于,所述的参数一是指,依据模板盖体图像中盖体对位特征在模板盖体图像中的位置为盖体基准,测算出待盖合的盖体的盖体对位特征在待盖合的盖体的图像上的位置相对于盖体基准偏离的转动角度;所述的参数二是指,依据模板罐体图像中罐体对位特征在模板罐体图像中的位置为罐体基准,测算出待盖合的罐体的罐体对位特征在待盖合的罐体的图像上的位置相对于罐体基准偏离的转动角度。

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