[发明专利]诊断装置

说明书

本发明涉及诊断装置，目的在于使结构健全性诊断容易进行。诊断装置(100)包括：数据获取部(132)，其在规定的时间点获取结构体的测量数据；数据记录部(134)，其将由数据获取部获取的测量数据作为基准数据，存储于存储部；以及健全性诊断部(136)，其通过比较由数据获取部本次获取的测量数据与由数据获取部前次获取并被存储部存储的基准数据，进行结构体的健全性诊断。

技术领域

本发明涉及一种诊断装置。

背景技术

作为结构体的诊断方法，已知有结构健全性诊断。在结构健全性诊断中，模拟作为诊断对象的结构体另外制作的供试体，在该供试体上安装传感器和激振部，通过传感器预先获取由激振部产生的振动所造成的供试体的变形等物理量作为基准数据。

并且，在每个规定的时间点，在结构体上安装传感器和激振部，通过传感器获取由激振部产生的振动所造成的结构体的变形等物理量。然后将获取的物理量与在供试体上获取的基准数据(物理量)进行比较，由此诊断结构体的健全性(有无经年劣化、损伤、缺陷等)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：专利第5629318号公报

发明内容

发明所要解决的课题

然而，在上述结构健全性诊断中，在获取基准数据时，需要另外制作供试体。这是因为不能人为在实际的结构体上施加损伤、缺陷等。另外，在获取基准数据时，为了诊断经年劣化，需要使供试体发生经年劣化，在每个规定期间获取物理量。另外，也需要预先对供试体施加损伤和缺陷，获取该供试体的相关物理量。

这样，在结构健全性诊断中，为获取基准数据，需要花大量的成本和时间。由此，存在无法容易地进行结构健全性诊断的问题。

鉴于这一课题，本发明的目的在于提供能够容易地进行结构健全性诊断的诊断装置。

用于解决课题的手段

为解决上述课题，本发明的诊断装置包括：数据获取部，其在规定的时间点获取结构体的测量数据；数据记录部，其将由所述数据获取部获取的测量数据作为基准数据，存储于存储部；以及健全性诊断部，其通过比较所述数据获取部本次获取的所述测量数据与所述数据获取部前次获取并被存储部存储的所述基准数据，进行所述结构体的健全性诊断。

另外，所述数据记录部可以在每次所述数据获取部获取所述测量数据时，将其作为所述基准数据累积存储于所述存储部；所述健全性诊断部可以将所述数据获取部本次获取的所述测量数据与所述存储部累积存储的所有所述基准数据进行比较。

另外，所述数据获取部可以不获取模拟所述结构体的供试体的测量数据。

发明效果

通过本发明，能够容易地进行结构健全性诊断。

附图说明

图1是表示诊断装置的构成的框图；

图2(a)和图2(b)是激振部及光纤传感器的说明图；

图3是表示比较例的结构健全性诊断的流程的流程图；

图4是表示本实施方式的结构健全性诊断的流程的流程图；

图5是表示变形例的结构健全性诊断的流程的流程图。

符号说明

TG 结构体

100 诊断装置

116 激振部

118 光纤传感器

132 数据获取部