[发明专利]用于生成相机的校正模型以校正像差的方法在审

专利信息
申请号: 201910263548.8 申请日: 2019-04-03
公开(公告)号: CN110392252A 公开(公告)日: 2019-10-29
发明(设计)人: A·瓦尔德尔 申请(专利权)人: B和R工业自动化有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/225;G01B11/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 俞海舟
地址: 奥地利埃*** 国省代码: 奥地利;AT
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 像差 相机设定 可变 校正 相机 特征位置 图像位置 相机图像 校正参数 校正模型 数学校正模型 特征确定 图像平面 相机拍摄 存储 拍摄
【权利要求书】:

1.一种用于生成相机(2)的校正模型以校正相机(2)的图像平面(4)中的至少一种通过若干选定的可变相机设定影响的像差的方法,其特征在于,设置在空间中具有不同已知特征位置(PMi(X,Y,Z))的多个(i)特征(Mi),对于每种选定的、影响像差的可变相机设定预规定至少两种定义的设定规范用于改变相应的相机设定,对于所述至少两种预规定的设定规范中的每一种由相机(2)拍摄所述多个(i)特征(Mi),由相机(2)从所拍摄的特征(Mi)确定特征(Mi)在图像平面(4)中的图像位置PBi(X,Y),借助至少一种已知数学方法确定在空间中的所述不同已知特征位置(PMi(X,Y,Z))与相机(2)的图像平面(4)中的对应图像位置PBi(X,Y)之间的关系,由该关系对于选定的可变相机设定的所述至少两种预规定设定规范中的每一种确定至少一个预规定的数学校正模型的校正参数以用于校正所述至少一种像差,并且将具有所确定的校正参数的所述至少一个校正模型存储在相机(2)中。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,规定几何畸变和/或色差和/或渐晕作为像差。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,规定焦距和/或焦点距离(F)和/或光圈(B)和/或照射特征(Mi)的光(L)的波长(λ)作为影响像差的可变相机设定。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,对于所有特征(Mi)设置距图像平面(4)相等的相机距离(IK)。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述特征(Mi)设置在二维校正板上,设置有源或无源的、优选圆形的特征(Mi)作为特征(Mi)。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述相机距离(IK)至少改变两次,在每个相机距离(IK)的情况下对于所述至少两种预规定设定规范中的每一种由相机(2)拍摄特征(Mi)。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,至少两个特征(Mi)设有不同的相机距离(IK)。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述特征(Mi)设置在三维校正物体(3)上,设置有源或无源的、优选圆形的特征(Mi)作为特征(Mi)。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其特征在于,设置至少十个、优选至少二十个、特别优选至少三十个特征(Mi)。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,其特征在于,使用根据Hartley&Zisserman的针孔相机模型作为用于确定空间中的所述不同已知特征位置(PMi(X,Y,Z))与相机(2)的图像平面(4)中的图像位置PBi(X,Y)之间的关系的数学方法。

11.根据权利要求2至10中任一项所述的方法,其特征在于,使用根据Brown-Conrady的径向切向模型作为用于几何畸变和/或色差的校正模型。

12.根据权利要求2至11中任一项所述的方法,其特征在于,使用具有渐晕参数(αi)和像素强度(I)的径向渐晕函数作为用于渐晕的校正模型。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于B和R工业自动化有限公司,未经B和R工业自动化有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910263548.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top