[发明专利]一种束流竖直方向密度分布的测量装置及方法在审
申请号: | 201910258890.9 | 申请日: | 2019-04-02 |
公开(公告)号: | CN111769030A | 公开(公告)日: | 2020-10-13 |
发明(设计)人: | 李更兰;田龙;张丛 | 申请(专利权)人: | 北京中科信电子装备有限公司 |
主分类号: | H01J37/317 | 分类号: | H01J37/317;H01J37/244;G01T1/29 |
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地址: | 101111 北京市通*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 竖直 方向 密度 分布 测量 装置 方法 | ||
1.一种竖直方向束流密度的测量装置,包括:法拉第杯(1),束流挡板(3),传动装置(10),控制器(12)。在传动装置的带动下,束流挡板可以沿着束流竖直方向运动。
2.一种用于在离子注入系统中,竖直方向束流密度的测量方法,该方法包括:通过测量m值确定束流测量间隔,束流挡板从起始点(8)开始运动,控制器根据挡板下边缘位置等间隔测量束流值,当束流挡板到达结束点(7)时,处理器(14)将得到一维的测量值数组,束流挡板下边缘在Y轴的位置构成一维的位置数组,将测量数组依次做迭代算法,得到与位置数组一一对应的束流平均密度数组。
3.权利要求2所述的方法,其中通过m值确定束流测量间隔包括:测量间隔由W/m确定,其中,W表示束流挡板在竖直方向的长度,m表示正整数,可以选择,如1、2、4等。m的值越大,测量间隔越小,最终得到的束流剖面信息越详细。
4.权利要求2所述的方法,其中迭代算法包括:一维的位置数组记为
{S0,S1,S2,S3,......,Sn-2,Sn-1,Sn}(位置数组)
一维的测量数组记为
{C0,C1,C2,C3,......,Cn-2,Cn-1,Cn}(测量数组)
待求的束流平均密度数组记为
{B0,B1,B2,B3,......,Bn-2,Bn-1,Bn}(束流平均密度数组)
束流密度迭代公式为
通过将测量数组和平均密度数组相应元素代入上面的迭代公式,得到束流平均密度数组各元素的值,其值与位置数组中的位置一一对应,迭代过程中,当n<0时,Bn=0。
5.权利要求2所述的方法,其中束流平均密度包括:平均束流密度指的是在Y轴的测量间隔W/m内的束流大小平均值。
6.权利要求2所示的方法,其中起始点和结束点包括:当束流挡板底部边缘(4)位置等于法拉第杯缝口顶部边缘(8)时,为起始点,当束流挡板顶部边缘(2)位置低于法拉第杯缝口底部边缘(7)时,为结束点。
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