[发明专利]一种巷道变形监测装置有效
申请号: | 201910257923.8 | 申请日: | 2019-04-01 |
公开(公告)号: | CN110132123B | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 代连朋;郭建霖;董二虎 | 申请(专利权)人: | 东北大学 |
主分类号: | G01B7/24 | 分类号: | G01B7/24 |
代理公司: | 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11613 | 代理人: | 韩国胜 |
地址: | 110169 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 巷道 变形 监测 装置 | ||
1.一种巷道变形监测装置,用于监测巷道的顶部和底部的相对移近量,其特征在于,其包括:
顶板和底板,所述顶板上具有顶测点,所述底板上具有底测点;
若干个第一生根杆,所述第一生根杆上具有多个第一生根点,所述第一生根杆的一端与所述顶板固定连接,所述顶板通过所述若干个第一生根杆固定在巷道的顶部;
若干个第二生根杆,所述第二生根杆上具有多个第二生根点,所述第二生根杆的一端与所述底板固定连接,所述底板通过所述若干个第二生根杆固定在巷道的底部;
测距装置,所述测距装置包括刻度尺和卷绕轴,刻度尺卷绕在所述卷绕轴上,形成刻度尺盘,刻度尺的自由端固定在顶板上的顶测点处,所述测距装置还包括拉环,通过拉环将测距装置拉动至底板的底测点,测量顶测点和底测点之间的距离,以监测巷道的顶部和底部的相对移近量,而松开拉环后,刻度尺的回卷将测距装置复位至顶测点;
所述测距装置包括:
第一螺旋盘,所述第一螺旋盘的轴线与所述卷绕轴位于同一条直线上,所述刻度尺盘的至少一侧设置有所述第一螺旋盘,所述第一螺旋盘的侧面具有第一螺旋形槽口,所述第一螺旋形槽口内滑动设置有若干个滑块,所述滑块的靠近刻度尺盘的内侧面与刻度尺的与该滑块对应的位置连接,使得所述若干个滑块在第一螺旋形槽口内的同步滑动可带动刻度尺盘转动;
驱动机构,用于驱动所述若干个滑块在第一螺旋形槽口内向靠近第一螺旋盘的中心的方向同步滑动或向远离所述第一螺旋盘的中心的方向同步滑动,从而带动刻度尺盘转动,使得刻度尺伸出或回卷。
2.根据权利要求1所述的巷道变形监测装置,其特征在于,所述滑块为第一磁铁,所述测距装置还包括:
第三磁铁,固定设置在所述第一螺旋形槽口内,且所述第三磁铁位于所述若干个第一磁铁的靠近第一螺旋盘的中心的一侧,在第一螺旋形槽口的延伸方向上相邻的两个第一磁铁,两者相互靠近的磁极为异性,且第三磁铁与靠近第三磁铁的第一磁铁,两者相互靠近的磁极也为异性;
设置在所述第一螺旋盘的背离所述刻度尺盘的一侧的第二螺旋盘,所述第二螺旋盘与所述第一螺旋盘同轴设置,所述第二螺旋盘的侧面具有第二螺旋形槽口,所述第二螺旋形槽口内滑动设置有若干个第二磁铁,所述若干个第二磁铁设置在所述第二螺旋形槽口的靠近第二螺旋盘的中心的一侧,且在第二螺旋形槽口的延伸方向上相邻的两个第二磁铁,两者相互靠近的磁极为异性;
其中,所述第二磁铁的靠近所述第一螺旋盘的内侧面具有凸起;
所述驱动机构用于当通过拉环将测距绕装置向底板的底测点拉动时,驱动所述第二螺旋盘沿轴向朝靠近第一螺旋盘的方向移动,所述第二磁铁的凸起一一对应插入相邻的两个第一磁铁之间,且在第一螺旋形槽口的延伸方向上,对于相邻的第一磁铁和第二磁铁,两者相互靠近的磁极为同性,从而利用磁场斥力驱动所述第一磁铁在第一螺旋形槽口内向远离所述第一螺旋盘的中心的方向同步滑动,带动刻度尺盘转动,刻度尺伸出;
所述驱动机构还用于当松开拉环时,驱动所述第二螺旋盘沿轴向朝远离第一螺旋盘的方向移动,从而利用磁场吸力驱动所述第一磁铁在第一螺旋形槽口内向靠近所述第一螺旋盘的中心的方向同步滑动,带动刻度尺盘转动,刻度尺回卷。
3.根据权利要求2所述的巷道变形监测装置,其特征在于,所述测距装置包括固定框,所述第一螺旋盘和第二螺旋盘设置在所述固定框内;
所述固定框包括相对设置的顶框和底框,所述顶框和/或底框上具有导向结构,所述第二螺旋盘与所述导向结构滑动连接,所述导向结构用于对所述第二螺旋盘沿轴向的移动进行导向。
4.根据权利要求3所述的巷道变形监测装置,其特征在于,所述导向结构为滑槽,所述第二螺旋盘的外侧面具有凸块,所述凸块与所述导向结构配合装配。
5.根据权利要求3所述的巷道变形监测装置,其特征在于,所述驱动机构包括弹性伸缩绳,所述弹性伸缩绳的一端穿过底框与拉环连接,另一端穿过刻度尺盘的中心与第二螺旋盘的中心端连接;
所述拉环位于固定框的外部,所述底框和拉环之间设置有弹性体。
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