[发明专利]一种凹阵相控阵探测仪以及探测系统

说明书

本发明公开一种凹阵相控阵探测仪，包括至少两个相控阵探头、超声波检测仪以及控制终端，每一所述相控阵探头均包括多个晶片，每一所述相控阵探头上的多个所述晶片均依次连接形成凹状检测面，各所述相控阵探头环绕待测的柱状工件设置，形成容纳所述柱状工件的检测孔，各所述相控阵探头上的晶片拼接形成封闭检测面，各所述相控阵探头均与所述超声波检测仪电连接，所述超声波检测仪与所述控制终端电连接。本发明提供的凹阵相控阵探测仪检测柱面工件的检测效率高。

技术领域

本发明涉及相控阵探测技术领域，具体涉及一种凹阵相控阵探测仪以及探测系统。

背景技术

在使用常规超声探头对柱状工件进行超声波探测时，为了完成柱状工件周向上的全面检测，需要转动柱状工件或者转动常规超声探头，实现不同功能检测时，需要多种型号探头配合多种角度实现检测，导致检测效率低，且结构复杂，稳定性差。

发明内容

本发明的目的在于克服上述技术不足，提供一种凹阵相控阵探测仪以及探测系统，解决现有技术中柱状工件检测效率低，系统结构复杂的技术问题。

为达到上述技术目的，本发明的技术方案提供一种凹阵相控阵探测仪，包括至少两个相控阵探头、超声波检测仪以及控制终端，每一所述相控阵探头均包括多个晶片，每一所述相控阵探头上的多个所述晶片均依次连接形成凹状检测面，各所述相控阵探头环绕待测的柱状工件设置，形成容纳所述柱状工件的检测孔，各所述相控阵探头上的晶片拼接形成封闭检测面，各所述相控阵探头均与所述超声波检测仪电连接，所述超声波检测仪与所述控制终端电连接。

本发明还提供一种凹阵相控阵探测系统，包括所述凹阵相控阵探测仪，还包括用于传输柱状工件的传输辊道以及驱动电机，所述柱状工件穿设于所述传输辊道内，所述传输辊道与所述驱动电机传动连接，所述驱动电机与控制器电连接，所述控制器与所述控制终端电连接。

与现有技术相比，本发明的有益效果包括：采用多个凹状的相控阵探头，拼接形成检测孔，柱状工件穿设于检测孔内，多个相控阵探头上的晶片形成封闭检测面，因此，不需要对柱状工件进行旋转，或者移动相控阵探头，即可实现柱状工件周向上的检测面，一次实现柱状工件周向上多种角度的检测，检测效率大大提高。

附图说明

图1是本发明提供的凹阵相控阵探测仪的单个相控阵探头的立体结构示意图；

图2是本发明提供的包含两个相控阵探头的凹阵相控阵探测仪的立体结构示意图；

图3是本发明提供的包含四个相控阵探头的凹阵相控阵探测仪的立体结构示意图；

图4是本发明提供的相控阵探头的凹阵相控阵探测系统的结构示意图。

附图标记：

1、相控阵探头，11、晶片，12、检测孔，2、超声波检测仪，3、控制终端，4、传输辊道，5、驱动电机，6、编码器，7、辅助定位装置，10、柱状工件。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

实施例1：

如图1所示，本发明的实施例1提供了一种凹阵相控阵探测仪，包括至少两个相控阵探头1、超声波检测仪2以及控制终端3，每一所述相控阵探头1均包括多个晶片11，每一所述相控阵探头1上的多个所述晶片11均依次连接形成凹状检测面，各所述相控阵探头1环绕待测的柱状工件10设置，形成容纳所述柱状工件10的检测孔12，各所述相控阵探头1上的晶片11拼接形成封闭检测面，各所述相控阵探头1均与所述超声波检测仪2电连接，所述超声波检测仪2与所述控制终端3电连接。