[发明专利]流体检测面板以及流体检测方法

权利要求书

1.一种流体检测面板，包括：微流控基板、光学单元和传感器，

其中，所述微流控基板包括样品检测区域，且被配置为允许液体样品到达所述样品检测区域；

所述光学单元包括光波导结构以及液晶光栅取光结构；

所述光波导结构被配置为允许光线在所述光波导结构中基于全反射传输；

所述液晶光栅取光结构设置在所述光波导结构的出光侧，且所述液晶光栅取光结构被配置为，根据施加在所述液晶光栅取光结构上的驱动电压信号，使得在所述光波导结构中传输的至少部分所述光线出射并照射至所述样品检测区域；以及

所述传感器被配置为检测从所述样品检测区域出射的光线；

所述液晶光栅取光结构包括液晶层以及设置在所述液晶层至少一侧的驱动电极；所述驱动电极被配置为接收所述驱动电压信号以驱动所述液晶层形成液晶光栅；

所述驱动电极设置在所述液晶层的远离所述光波导结构的一侧；

所述驱动电极包括间隔布置的第一电极和第二电极；所述第一电极被配置为接收第一电压，所述第二电极被配置为接收第二电压，所述第一电压不等于所述第二电压；

所述微流控基板还包括对照检测区域；以及所述液晶光栅取光结构包括并列布置的第一取光单元和第二取光单元，分别对应于所述样品检测区域和所述对照检测区域；

所述传感器包括第一感光结构和第二感光结构；所述第一感光结构被配置为检测从所述样品检测区域出射的光线，以输出检测信号；所述第二感光结构被配置为检测从所述对照检测区域出射的光线，以输出对照信号；以及所述检测信号和所述对照信号用于获取校准后的检测信号。

2.根据权利要求1所述的流体检测面板，其中，

所述液晶层的折射率根据所述驱动电压信号至少转变为第一折射率与第二折射率；

所述第一折射率小于所述第二折射率；以及

所述第一折射率被配置为允许所述光线在所述光波导结构中基于全反射传输，所述第二折射率被配置为允许所述光线从所述光波导结构出射并照射至所述样品检测区域。

3.根据权利要求1所述的流体检测面板，其中，所述第一取光单元包括第一取光电极以及被所述第一取光电极控制的液晶分子，所述第二取光单元包括第二取光电极以及被所述第二取光电极控制的液晶分子；以及

所述第一取光电极和所述第二取光电极被配置为驱动被所述第一取光电极控制的液晶分子和被所述第二取光电极控制的液晶分子分别形成液晶光栅。

4.根据权利要求1所述的流体检测面板，其中，所述传感器包括对照感光结构；

从所述样品检测区域出射的光线以及从所述对照检测区域出射的光线可在所述对照感光结构叠加；以及

所述对照感光结构被配置为检测叠加后的光线的强度分布。

5.根据权利要求3所述的流体检测面板，其中，

所述第一取光电极包括第一驱动子电极和第二驱动子电极，所述第一驱动子电极被配置为接收第一驱动电压，所述第二驱动子电极被配置为接收第二驱动电压；

所述第二取光电极包括第三驱动子电极和第四驱动子电极，所述第三驱动子电极被配置为接收第三驱动电压，所述第四驱动子电极被配置为接收第四驱动电压；

所述第一驱动子电极和所述第二驱动子电极之间的间距等于所述第三驱动子电极和所述第四驱动子电极之间的间距。

6.根据权利要求1所述的流体检测面板，其中，所述液晶光栅取光结构还包括遮光结构，

所述遮光结构设置在所述第一取光单元和所述第二取光单元之间。

7.根据权利要求1或2所述的流体检测面板，还包括传感器基板，其中，所述传感器基板设置在所述微流控基板远离所述液晶光栅取光结构的一侧，所述传感器设置在所述传感器基板上。