[发明专利]改性ZnO/ZnS纳米片阵列疏水自清洁膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 201910242117.3 申请日: 2019-03-28
公开(公告)号: CN109879607A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 刘志锋;宋庆功;康建海;严慧羽;韩建华 申请(专利权)人: 中国民航大学
主分类号: C03C17/34 分类号: C03C17/34
代理公司: 天津才智专利商标代理有限公司 12108 代理人: 庞学欣
地址: 300300 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 纳米片阵列 自清洁 疏水 制备 热处理 反应溶液 纳米片 放入 改性 硫代乙酰胺溶液 烘箱 操作工艺 化学处理 清洁性能 乙醇溶液 接触角 硬脂酸 烘干 配制 清洗 配置
【权利要求书】:

1.一种改性ZnO/ZnS纳米片阵列疏水自清洁膜的制备方法,其特征在于:所述的制备方法包括按顺序进行的下列步骤:

(1)将硝酸锌按比例加入到去离子水中并搅拌均匀,在搅拌的过程中加入氨水至溶液的pH值为10,由此制备成ZnO纳米片反应溶液;

(2)将洗净的ITO玻璃放入上述制备好的ZnO纳米片反应溶液中并进行水热处理,由此在ITO玻璃表面形成ZnO纳米片阵列膜;

(3)将上述覆有ZnO纳米片阵列膜的ITO玻璃放入硫代乙酰胺溶液中并进行水热处理,由此在ITO玻璃表面形成ZnO/ZnS纳米片阵列膜;

(4)将上述覆有ZnO/ZnS纳米片阵列膜的ITO玻璃用硬脂酸的乙醇溶液进行化学处理,并放入烘箱中进行烘干,最终在ITO玻璃表面形成所述的ZnO/ZnS纳米片阵列疏水自清洁膜。

2.根据权利要求1所述的改性ZnO/ZnS纳米片阵列疏水自清洁膜的制备方法,其特征在于:在步骤(1)中,所述的硝酸锌和去离子水的用量比为1~5g:30~50ml。

3.根据权利要求1所述的改性ZnO/ZnS纳米片阵列疏水自清洁膜的制备方法,其特征在于:在步骤(2)中,所述的水热处理温度为70℃~90℃,处理时间为4h。

4.根据权利要求1所述的改性ZnO/ZnS纳米片阵列疏水自清洁膜的制备方法,其特征在于:在步骤(3)中,所述的硫代乙酰胺溶液的浓度为0.1~0.3mol/L,水热处理温度为90℃,处理时间为6~7h。

5.根据权利要求1所述的改性ZnO/ZnS纳米片阵列疏水自清洁膜的制备方法,其特征在于:在步骤(4)中,所述的硬脂酸的乙醇溶液的浓度为0.1~0.3mol/L,化学处理时间为6~12h,烘干温度为80℃,烘干时间为10~15min。

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