[发明专利]基于多环形振荡器FPGA配置电路鲁棒性检测方法有效
| 申请号: | 201910238169.3 | 申请日: | 2019-03-27 |
| 公开(公告)号: | CN110096397B | 公开(公告)日: | 2022-10-25 |
| 发明(设计)人: | 赵毅强;曹宇文;何家骥;刘燕江;马浩诚 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
| 主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G01R31/3181;G01R31/3185;G01R31/28;G01R1/28 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
| 地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 环形 振荡器 fpga 配置 电路 鲁棒性 检测 方法 | ||
本发明属于集成电路安全性检测技术领域,为提出集成电路安全性检测技术方案,本发明,基于多环形振荡器FPGA配置电路鲁棒性检测方法,多环形振荡器RO单元是由两个FPGA查找表LUT基本单元分别配置成的反相器和与门组成的可控震荡逻辑结构,在运行时,环形振荡器上信号不停翻转,产生较高频率的震荡信号,通过FPGA的共用电源网络对FPGA上已配置电路产生影响。对FPGA进行多区域划分,将待测电路先配置在FPGA的某一区域,再将不同数量的RO单元配置在其它区域;对待测电路的重要信号的延时数据以及电路的输出结果进行采集,实现FPGA配置电路鲁棒性的检测。本发明主要应用于集成电路安全性检测场合。
技术领域
本发明属于集成电路安全性检测技术领域,具体涉及一种基于多RO单元的FPGA配置电路鲁棒性检测方法。
背景技术
随着集成电路制造工艺的快速发展,ASIC(专用集成电路)和FPGA(现场可编程门阵列)的工艺尺寸逐年降低,芯片的集成度逐年升高,相同面积芯片上的元器件数目也越来越多。ASIC往往针对特定功能或指标进行特定电路的优化设计,而FPGA通过比特流文件进行配置,不同的代码能够实现不同功能的电路,FPGA的制造工艺的成熟缩小了FPGA电路性能与ASIC电路性能的差距。同时,相对于ASIC而言,FPGA具有开发成本低、可重新配置、设计周期短以及上市时间更快的优势,被广泛应用于机器学习、人工智能、硬件加速等重要科技领域,在对科技的进步和社会经济的发展中发挥着越来越大的推动作用。
在最新的云端FPGA或SOC(片上系统)芯片系统中,用户能够获得FPGA的访问权限,从而实现远程重配置FPGA,实现定制化加速器等功能的电路结构。通常,云端FPGA会划分成不同区域提供给用户使用,实现FPGA的最大化利用,但是对于已经配置在FPGA上的电路而言,后续其他用户配置的电路会通过整块FPGA共用的电源网络对它产生影响。
FPGA上的电路运行时会产生许多信号,这些信号随不同的逻辑结构发生不同频率高低电平翻转,从而产生电流并导致一定程度的电压波动。由于FPGA的电源网络是一个整体,无法通过区域划分部分提供给用户,所以,在FPGA上已有配置电路时,后续配置的FPGA其他区电路运行所产生的电压波动超过一定限度时,FPGA先前已被配置电路的供电会受到极大的影响,使得电路违背建立时间规则和保持时间规则,进而影响这些区域电路中不同信号间逻辑的正确性,对FPGA上配置电路的鲁棒性产生严重威胁,因此,对FPGA上已配置电路的鲁棒性进行检测,以便对后续配置FPGA电路进行适当约束十分重要。
参考文献
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[2]Kumar A,Anis M.IR-drop management CAD techniques in FPGAs forpower grid reliability[C]//International Symposium on Quality of ElectronicDesign.IEEE Computer Society,2009:746-752.
[3]Nassif S R,Fakhouri O.Technology trends in power-grid-inducednoise[C]//Ieee/acm International Workshop on System-Level InterconnectPrediction.DBLP,2002:55-59.
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