[发明专利]光学检测装置及光学检测方法在审
申请号: | 201910234480.0 | 申请日: | 2019-03-26 |
公开(公告)号: | CN109901314A | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 张凌宇 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;鞠骁 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光源 光学检测 光学检测装置 图像获取模块 控制模块 基板 标准参数 表面图像 参数满足 亮度特性 检测 预设 载台 | ||
1.一种光学检测装置,其特征在于,包括载台(10)、设于载台(10)上方的图像获取模块(20)、设于载台(10)上方的光源(30)以及与光源(30)电性连接的控制模块(40);所述光源(30)包括多个子光源(31),每一子光源(31)分别连接控制模块(40),至少有两个子光源(31)发出的光的颜色不同;
所述控制模块(40)用于控制多个子光源(31)发出的光的强度。
2.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,任意两个子光源(31)发出的光的颜色不同。
3.如权利要求2所述的光学检测装置,其特征在于,所述光源(30)包括三个子光源(31),该三个子光源(31)分别为红光子光源(311)、绿光子光源(312)及蓝光子光源(313)。
4.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述图像获取模块(20)为CCD相机。
5.一种光学检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1、提供待检测基板(90)及光学检测装置;
所述光学检测装置包括载台(10)、设于载台(10)上方的图像获取模块(20)、设于载台(10)上方的光源(30)以及与光源(30)电性连接的控制模块(40);所述光源(30)包括多个子光源(31),每一子光源(31)分别连接控制模块(40),至少有两个子光源(31)发出的光的颜色不同;
步骤S2、将待检测基板(90)设于载台(10)上;
步骤S3、所述光源(30)的多个子光源(31)向待检测基板(90)的表面发出光线,图像获取模块(20)获取待检测基板(90)的表面图像;
步骤S4、所述控制模块(40)对多个子光源(31)发出的光的强度进行控制,使得图像获取模块(20)获取的待检测基板(90)的表面图像的亮度特性参数满足预设的标准参数。
6.如权利要求5所述的光学检测方法,其特征在于,任意两个子光源(31)发出的光的颜色不同。
7.如权利要求6所述的光学检测方法,其特征在于,所述光源(30)包括三个子光源(31),该三个子光源(31)分别为红光子光源(311)、绿光子光源(312)及蓝光子光源(313)。
8.如权利要求5所述的光学检测方法,其特征在于,所述图像获取模块(20)为CCD相机。
9.如权利要求5所述的光学检测方法,其特征在于,所述待检测基板(90)为COA型阵列基板。
10.如权利要求5所述的光学检测方法,其特征在于,所述待检测基板(90)的表面图像的亮度特性参数为待检测基板(90)的表面图像的亮度均匀性参数。
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